发明名称 一种X射线辐射预分选低品位锡矿石的方法
摘要 一种X射线辐射预分选低品位锡矿石的方法,属于矿物加工技术领域,按以下步骤进行:(1)将低品位锡矿石原矿破碎;(2)对破碎后的物料进行筛分,筛上物料作为锡矿石粉料;(3)在X-射线分选机的控制系统中设定精矿和尾矿分离的品位阙值,阙值范围为0.017~0.07%,将锡矿石粉料放入分选机,经过X-射线分选机选别后,获得品位高的锡矿石精矿。本发明的方法以及自动化程度高,节省选矿成本,经过X-射线分选机预先抛尾后,选厂入选品位大大提高,锡矿浮选效果好。
申请公布号 CN102189083A 申请公布日期 2011.09.21
申请号 CN201110079322.6 申请日期 2011.03.31
申请人 沈阳东北大学冶金技术研究所有限公司;东北大学 发明人 印万忠;韩跃新;孙中强;刘明宝
分类号 B07C5/346(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I 主分类号 B07C5/346(2006.01)I
代理机构 沈阳东大专利代理有限公司 21109 代理人 李在川
主权项 一种X射线辐射预分选低品位锡矿石的方法,其特征在于按以下步骤进行:(1)将低品位锡矿石原矿破碎至≤200mm;(2)用筛孔尺寸20~50mm的筛分机对破碎后的物料进行筛分,筛上物料作为锡矿石粉料;(3)在X‑射线分选机的控制系统中设定精矿和尾矿分离的品位阙值,阙值范围为0.017~0.07%,将锡矿石粉料放入分选机,经过X‑射线分选机选别后,获得品位高的锡矿石精矿和品位低的锡矿石尾矿,锡矿石尾矿进入尾矿接收槽,锡矿石精矿进入精矿接收槽。
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