发明名称 |
铜的表面处理方法以及铜 |
摘要 |
本发明的课题是提供一种通过铜的表面处理,不会形成超过1μm的凹凸并可确保铜表面与绝缘层的粘接强度,可提高配线间的绝缘可靠性的铜的表面处理方法及铜;为了解决此课题,提供包括将比铜更惰性的金属离散形成于铜表面的工序,以及其后将所述铜表面用含有氧化剂的碱性溶液进行氧化处理的工序的铜的表面处理方法,以及通过该方法被实施了表面处理的铜。 |
申请公布号 |
CN101137768B |
申请公布日期 |
2011.09.21 |
申请号 |
CN200680007928.6 |
申请日期 |
2006.03.10 |
申请人 |
日立化成工业株式会社 |
发明人 |
山下智章;井上康雄;松浦雅晴;伊藤丰树;清水明;井上文男;中祖昭士 |
分类号 |
C23C22/78(2006.01)I;C23C22/63(2006.01)I;C23C22/83(2006.01)I |
主分类号 |
C23C22/78(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
汪惠民 |
主权项 |
一种铜的表面处理方法,其中,包括将比铜更惰性的金属离散形成于铜表面的工序,以及其后将所述铜表面用含有氧化剂的碱性溶液进行氧化处理的工序,其中所述氧化剂为选自由氯酸盐、亚氯酸盐、次氯酸盐、高氯酸盐、过氧二硫酸盐构成的组中的一种以上。 |
地址 |
日本东京都 |