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Die Erfindung befasst sich mit einer Laminographieanlage mit einer Strahlenquelle 1, einem Detektor 10 und einem Objektschlitten 20; wobei die Strahlenquelle 1 mit einer ersten Linearführung 4 verbunden ist, entlang der sie, die z-Richtung eines kartesischen Koordinatensystems definierend, bewegbar ist und an dieser festlegbar ist; wobei der Detektor 10 so im Strahlenkegel 2 der Strahlenquelle 1 angeordnet ist, dass der Zentralstrahl 3, der die y-Achse des kartesischen Koordinatensystems definiert, ihn im Wesentlichen in x-Richtung mittig trifft; und der Detektor 10 um eine erste Drehachse 11,es Zentralstrahls 3 mit dem Detektor 10 verläuft, über eine erste Rotationsvorrichtung rotierbar ist; und der Detektor 10 entlang der ersten Drehachse 11 an einer zweiten Linearführung bewegbar und an dieser festlegbar ist; wobei der Objektschlitten 20 zwischen Strahlenquelle 1 und Detektor 10 angeordnet ist und um eine zweite Drehachse 21, die parallel zur ersten Drehachse 11 durch den Schnittpunkt des Zentralstrahls 3 mit einem in den Objektschlitten 20 einzusetzenden, zu untersuchenden Objekts 31 verläuft, über eine zweite Rotationsvorrichtung rotierbar ist.
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