Test-Anschlussplattform mit mehreren Anschlussplattengruppen.

摘要

Die vorliegende Erfindung offenbart eine Test-Anschlussplattform mit mehreren Anschlussplattengruppen, die zumindest zwei Anschlussplattengruppen umfasst. Erfindungsgemäss können zwei oder mehr Anschlussplattengruppen vorhanden sein, die identisch aufgebaut sein können, um die Prüfung zu vereinfachen und die Prüfdauer zu verkürzen. Sie können aber auch unterschiedlich aufgebaut sein, um eine Anpassung an unterschiedliche Prüfbedingungen zu ermöglichen.