首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Standard sample for TEM Transmission electron microscope elemental mapping and TEM elemental mapping method using the same
摘要
申请公布号 KR101065074(B1) 申请公布日期 2011.09.15
申请号 KR20040003253 申请日期 2004.01.16
申请人 发明人
分类号 G01N1/28;G01N23/04;B82Y15/00;B82Y35/00;G01N23/08;G01N33/04;H01J37/26 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com