发明名称 一种用于替代电磁兼容性辐射试验的表面电流注入技术
摘要 本发明公开了一种用于替代电磁兼容性辐射试验的表面电流注入技术,通过将经典电磁场理论和计算与工程试验方法紧密有机结合,首次创新性导出了表面电流注入(SCI,SurfaceCurrentInjection)与试验标准规定的辐射电磁应力的数量关系计算方法,并给出了新颖实用完整的试验方法。具体就是依据电磁场理论,通过分析电磁兼容性试验中电磁场的发射、电磁波的传播和衰落、受试件与外加电磁应力的相互作用机理、途径,计算求出受试件上的射频感应表面电流,把“电磁场发射”试验转换成“电路传导”试验,显著降低了试验设施、仪器和试验过程成本,提高了实用可行性。
申请公布号 CN102183696A 申请公布日期 2011.09.14
申请号 CN201110051086.7 申请日期 2011.03.03
申请人 中国航空无线电电子研究所 发明人 方愔
分类号 G01R29/08(2006.01)I 主分类号 G01R29/08(2006.01)I
代理机构 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人 梁晓霏
主权项 1.一种用于替代电磁兼容性辐射试验的表面电流注入技术,其特征在于,所述技术包括如下步骤:1)确定辐射试验规定或用户要求的高强度场强<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="37" he="29" />;2)根据辐射试验规定的发射天线至受试件表面的距离、辐射天线方向性,利用通信距离方程计算受试件表面处电磁强度:<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="137" he="50" />式中:<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="41" he="29" />是受试件表面处辐射场强,<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="17" he="25" />是发射天线的输出功率,<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE010.GIF" wi="20" he="25" />是发射天线的增益,<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE012.GIF" wi="16" he="20" />是发射天线至试件表面处的距离,<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE014.GIF" wi="16" he="20" />是辐射场的波长;3)由自由空间中远区场的电场与磁场关系计算受试件表面处磁场强度: <img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE016.GIF" wi="241" he="28" />式中:<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE018.GIF" wi="44" he="28" />是受试件表面处辐射磁场强度,<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE020.GIF" wi="14" he="20" />是辐射场传播方向单位矢量;4)根据辐射场的极化方向与受试件表面的空间夹角关系计算受试件表面处的表面切向磁场分量:<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE022.GIF" wi="148" he="25" />式中:<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE024.GIF" wi="52" he="28" />是受试件表面处辐射磁场切向分量,<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE026.GIF" wi="14" he="20" />是辐射场的极化方向与受试件表面的夹角;5)利用前述“计算方案”中方程(1)计算受试件表面应该注入的表面电流量值:<img file="2011100510867100001DEST_PATH_IMAGE028.GIF" wi="105" he="25" />6)通过表面电流探头对受试件注入计算出的表面电流J<sub>注入</sub>,完成试验。
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