发明名称 |
一种监测发光环境障碍涂层失效状况的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种监测发光环境障碍涂层失效状况的方法,首先对发光环境障碍涂层进行荧光成像,若在荧光成像图像中存在黑色区域,则判断发光环境障碍涂层存在开裂或剥落区域,已经发生了结构宏观失效,否则分别测量未受腐蚀的和待监测的发光环境障碍涂层在特定激发波长下的荧光光谱,并分别计算两种光谱中对应于激活离子电偶极跃迁的强度最大的特征峰和对应于激活离子磁偶极跃迁的强度最大的特征峰之间的强度比,并计算强度比的变化值,若其绝对值≥20%,则判断发光环境障碍涂层发生了结构衰变。本方法灵敏度高,具有广泛的适用对象和使用环境。 |
申请公布号 |
CN101858872B |
申请公布日期 |
2011.09.14 |
申请号 |
CN201010197829.7 |
申请日期 |
2010.06.10 |
申请人 |
西北工业大学 |
发明人 |
王一光;成来飞;张立同;刘雯 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
西北工业大学专利中心 61204 |
代理人 |
王鲜凯 |
主权项 |
1.一种监测发光环境障碍涂层失效状况的方法,其特征在于包括以下步骤:步骤1:对待监测的发光环境障碍涂层在特定激发波长下进行荧光成像,若在荧光成像图像中存在黑色区域,则判断发光环境障碍涂层存在开裂或剥落区域,已经发生了结构宏观失效,否则进行下一步骤;步骤2:测量未受腐蚀的发光环境障碍涂层在特定激发波长下的荧光光谱;步骤3:在步骤2得到的荧光光谱中,选取对应于激活离子电偶极跃迁的强度最大的特征峰和对应于激活离子磁偶极跃迁的强度最大的特征峰,计算这两处特征峰的强度比;步骤4:测量待监测的发光环境障碍涂层在特定激发波长下的荧光光谱,其中激发波长与步骤2中采用的激发波长相同;步骤5:在步骤4得到的荧光光谱中,选取与步骤3中的特征峰位置对应的两处特征峰,并计算这两处特征峰的强度比,其比值关系与步骤3中强度比的比值关系相同;步骤6:根据步骤3与步骤5得到的两处特征峰的强度比,计算强度比变化值:<img file="FSA00000156051800011.GIF" wi="2028" he="123" />当强度比变化值的绝对值≥20%,则判断发光环境障碍涂层发生了结构衰变。 |
地址 |
710072 陕西省西安市友谊西路127号 |