发明名称 光学测量设备
摘要 本发明提供了一种用于测量样本(10),特别是人类皮肤的至少部分为半透明的表面(12)的光学外观的光学测量设备。这种光学测量设备包括:用于用从辐射源(58)发射的辐射光束产生的照射光束(20)照射表面(12)的照射装置(18);以及用于截获作为样本(10)对入射到表面(12)上的照射光束(20)的响应产生的响应光束(30,32)的检测装置(56)。这种光学测量设备包括可以与样本(10)的表面(12)接触的测量头(14),所述测量头(14)包括至少一个细长孔径(40),设计成使得在样本(10)的表面(12)以下的次表面区域(16)内产生的响应光束(30,32)可被检测装置(56)检测,而在表面处直接反射的照射光束(20)被隔断。
申请公布号 CN101427125B 申请公布日期 2011.09.14
申请号 CN200780013961.4 申请日期 2007.04.10
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 S·沃德曼
分类号 G01N21/47(2006.01)I;G01N21/49(2006.01)I;G01N21/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/47(2006.01)I
代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 吴立明
主权项 一种用于测量半透明的物体(10)的表面(12)的光学外观的光学测量设备,包括:‑照射装置(19),用于用照射光束(20)照射表面(12),其中从辐射源(58)发射的辐射光束产生所述照射光束(20);‑检测装置(56),用于截获响应光束(28,30,32),其中作为样本(10)对入射到表面(12)上的照射光束(20)的响应而产生所述响应光束(28,30,32),其特征在于所述检测装置(56)包括:‑辐射敏感组件(56a)关于细长孔径(40)对响应光束(32)成像,并且其中所述光学测量设备(9)包括测量头(14),所述测量头(14)包括带有包括至少一个细长孔径(40)的底板(24)的外壳(22),其中所述底板(24)布置在样本(10)的表面(12)上,以便执行光学外观测量,其中所述测量头(14)能够与样本(10)的表面(12)接触,其中所述测量头(14)还包括至少一个细长孔径(40),该细长孔径(40)设计成使得在样本(10)的表面(12)以下的次表面区域(16)内产生的响应光束(30,32)可被检测装置(56)检测,其中所述细长孔径包括让照射光束(20)通过其传播到表面(12)上的照射部分(34)和让响应光束通过其向检测装置(56)传播的检测部分(36),其中所述测量头(14)内布置有将光纤的照射光束(20)与响应光束(32)屏蔽的挡板(26),以便在细长孔径(40)内实现照射部分(34)和检测部分(36),其中在表面上直接反射的照射光束(20)被隔断。
地址 荷兰艾恩德霍芬市