发明名称 辐射成像装置和用于控制辐射成像装置的方法
摘要 本发明提供了辐射成像装置和用于控制辐射成像装置的方法和程序。提供了一种辐射成像装置,其稳定成像装置的暗电流、图像重影以及灵敏度,减少光源的功耗和发热,并且改进了转换元件的耐用性。所述辐射成像装置包括:包括转换单元的平板检测器,其中所述转换单元包括布置成矩阵的多个像素,所述像素中的每一个包括能够将辐射射线转换为电荷的转换元件;光源,能够将光发射到所述转换单元;以及控制单元,被配置为控制所述平板检测器和所述光源。所述控制单元基于从所述平板检测器输出的信号控制由所述光源执行的光发射。
申请公布号 CN101267506B 申请公布日期 2011.09.14
申请号 CN200810082931.5 申请日期 2008.03.13
申请人 佳能株式会社 发明人 横山启吾;远藤忠夫;龟岛登志男;八木朋之;竹中克郎
分类号 H04N5/32(2006.01)I;H04N5/30(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;H05G1/30(2006.01)I 主分类号 H04N5/32(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 康建忠
主权项 一种辐射成像装置,包括:包括转换单元的平板检测器,所述转换单元包括布置成矩阵的多个像素,所述像素中的每一个包括能够将辐射射线转换为电荷的转换元件;光源,能够将光发射到所述转换单元;以及控制单元,被配置为控制所述平板检测器和所述光源,所述控制单元基于从所述平板检测器输出的暗输出值控制由所述光源执行的光发射,其中,所述暗输出值指的是在暗状态下获得的来自所述平板检测器的输出,在所述暗状态下,没有辐射射线或光射线输入到所述平板检测器,其中,所述控制单元比较预定基准值和以预定间隔从所述平板检测器获取的暗输出值,并且基于比较结果控制由所述光源执行的光发射,其中,所述预定基准值是当观察者或图像处理软件对图像感到不满意时所获得的暗输出值。
地址 日本东京