发明名称 |
一种电位器测试装置 |
摘要 |
本实用新型涉及一种电位器测试装置,包括工作台(17),工作台(17)上设有放置膜电位器的载片台(16)和支撑杆(10),支撑杆(10)上部连接一个双轴气缸(11),双轴气缸的双轴上连接一个工作头(13),工作头(13)中设有一组弹簧针(14),弹簧针(14)与放置在载片台(16)上的膜电位器中的各测试点相对应配合,弹簧针(14)通过导线与矩阵开关连接,矩阵开关与数字多用表连接。本实用新型的有益效果是:简化了膜式电位器的测量,在生产过程中不需要装配刷片就可以对产品进行控制,提高了产品合格率及提高了生产效率。 |
申请公布号 |
CN201974479U |
申请公布日期 |
2011.09.14 |
申请号 |
CN201020654896.2 |
申请日期 |
2010.12.13 |
申请人 |
华东光电集成器件研究所 |
发明人 |
丁旭明;臧子昂;邓军;尹宏程;陈鹏;王文略 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01)I;G05B15/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种电位器测试装置,其特征在于:包括工作台(17),工作台(17)上设有放置膜电位器的载片台(16)和支撑杆(10),支撑杆(10)上部连接一个双轴气缸(11),双轴气缸的双轴上连接一个工作头(13),工作头(13)中设有一组弹簧针(14),弹簧针(14)与放置在载片台(16)上的膜电位器中的各测试点相对应配合,弹簧针(14)通过导线与矩阵开关连接,矩阵开关与数字多用表连接,双轴气缸上设有霍尔传感器(12),当双轴气缸(11)下降到最低点时,弹簧针(14)与膜电位器中的各测试点充分接触。 |
地址 |
233042 安徽省蚌埠市蚌山区财院路10号 |