| 发明名称 | 非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备 | ||
| 摘要 | 一种非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备，包括玻璃微探针，其特征在于它还包括用于观测玻璃微探针形状的扫描电镜及膜片钳电阻测量设备；本实用新型的优越性：用膜片钳电阻测量方法与扫描电镜技术相结合共同分析玻璃微探针性状的手段更加简便快捷，并能够直观、可靠、非破坏性地判定纳米尺度玻璃微探针的性能及其拉制质量。 | ||
| 申请公布号 | CN201974444U | 申请公布日期 | 2011.09.14 |
| 申请号 | CN200920250214.9 | 申请日期 | 2009.11.12 |
| 申请人 | 国家纳米技术与工程研究院 | 发明人 | 张彦军 |
| 分类号 | G01Q40/00(2010.01)I;G01Q40/02(2010.01)I;G01Q70/10(2010.01)I;G01R27/02(2006.01)I | 主分类号 | G01Q40/00(2010.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备，包括玻璃微探针，其特征在于它还包括用于观测玻璃微探针形状的扫描电镜及膜片钳电阻测量设备；所说的膜片钳电阻测量设备由膜片钳放大器构成，所说的膜片钳放大器与充灌电极内液的玻璃微探针连接。 | ||
| 地址 | 300457 天津市经济技术开发区第四大街80号 | ||