光学偏振器件偏振消光比的检测方法和检测装置

摘要

一种偏振器件偏振消光比的检测方法和检测装置。检测方法：线偏光沿着待测光学偏振器件的一个主轴入射，由于偏振串扰，在出射端，得到两个正交光轴上的光信号；经干涉，并将干涉光信号进行光电转换和数据采集，得到一组离散的反应干涉光强信号的电压信号值；由公式（1）可得到每一个耦合点处的耦合强度h，再经公式（2）便可得到待测光学偏振器件的消光比。所述装置顺次包括，光源与隔离器模块、起偏模块、待测光学偏振器件、投影方向调整模块、干涉仪模块、数据采集模块和处理器模块。本发明通过检测耦合点的耦合强度，推导出偏振消光比，使得测量结果准确。适用于保偏光纤、保偏光纤耦合器、偏振器等多种光学偏振器件，具有一定的通用性。

主权项

一种基于干涉法光学偏振器件偏振消光比的检测方法，其特征在于该方法具体步骤如下：第1、使线偏光沿着待测光学偏振器件的一个主轴入射，则在该光学偏振器件的各瑕疵点上、在与入射偏振主轴即X轴，正交的另一轴Y轴上激发起耦合模，则在出射端，得到两个正交光轴上的光信号，再将两个正交光轴上的光信号进行投影方向调整，分束，反射后干涉，得到干涉光强信号；第2、对第1步得到的干涉光强信号进行光电转换和数据采集，得到一组离散的反应干涉光强信号电压信号值；第3、对第2步得到的每一点光强信号进行耦合强度计算，最后用每一点的耦合强度值计算偏振器件的消光比，第3.1、设偏振器件在每一个瑕疵点上由偏振主轴x轴，耦合到与主轴x正交的另一主轴y轴的耦合强度为pyi，i＝0、1、2、3、......n，则在待测光学偏振器件出射端上总的耦合强度可表示如下：py＝p1+p2+……pn其中n为耦合点的个数，n的大小取决于偏振器件的制造水平以及被测偏振器件的长度；第3.2、第3.1步所述的每一个耦合点处的耦合强度h由(1)式表示为：h＝20logIy/Ix＝10log(Iy/Ix)2＝10logIy2Ix2＝10logpy/px………………(1)其中I为干涉光信号的振幅；第3.3、由(1)式可推出两个正交主轴上的耦合强度之比py/px＝100.1h，将各耦合点处的两个正交主轴上的耦合强度之比值相加便可得到保偏光纤的偏振消光比，如(2)式所示， η = 10 log ( p y / p x ) = 10 log ( p y 1 / p x + p y 2 / p x + . . . . . . + p yn / p x ) = 10 log ( 10 0.1 h 1 + 1 0 0.1 h 2 + . . . . . . + 10 0.1 h n ) . . . ( 2 ) 把各点的耦合强度值代入(2)式，便可得到待测光学偏振器件的消光比。