| 发明名称 |
晶片检出装置 |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
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申请公布日期 |
2011.09.11 |
| 申请号 |
TW100205946 |
申请日期 |
2011.04.01 |
| 申请人 |
源興電子股份有限公司 新竹縣新豐鄉中崙村8鄰255之1號 |
发明人 |
徐荣祥 新竹县新丰乡中仑村8邻255之1号 |
| 分类号 |
H01L21/00 |
主分类号 |
H01L21/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
台北市大安区忠孝东路4段311号12楼之1 台北市大安区忠孝东路4段311号12楼之1 |
| 主权项 |
一种晶片检出装置，包括：一控制单元，读取复数晶片之波长及位置；至少一第一检测膜，其上黏附有该等晶片；至少一发光装置，受该控制单元控制照射在该第一检测膜上之部分区域，使该第一检测膜上被照射之区域失去黏性；至少一第二检测膜，其系设于该等晶片上方；以及一顶出机构，位于该第一检测膜下方，由该控制单元依据该等晶片之波长，控制该顶出机构将该等晶片中相近或不相近波长者顶出，并黏在该第二检测膜下方。 |
| 地址 |
新竹县新丰乡中仑村8邻255之1号 |
