侦测缺陷光碟片的装置与方法

主权项

一种侦测缺陷光碟片的方法，包括下列步骤：确定一光学读取头于一锁轨状态存取一轨道上的资料；切割一波浪信号成为一波浪时脉信号；于一第一时间内计数该波浪时脉信号所产生的复数个时脉数目；当该复数个时脉数目的一第一计数值小于一第一临限值时，判断该轨道为该缺陷区域，否则，判断该轨道不为该缺陷区域；以及当该轨道确定位于该缺陷区域时，维持该光学读写头的位置不变。如申请专利范围1述之侦测缺陷光碟片的方法，更包括：于该光学读取头位于该缺陷区域时，当该第一计数值大于一第二临限值时，判断该光学读取头已离开该缺陷区域，其中该第二临限值大于等于该第一临限值。如申请专利范围1述之侦测缺陷光碟片的方法，更包括：于该光学读取头位于该缺陷区域超过一第二时间时，判断该光学读取头已离开该缺陷区域。如申请专利范围1所述之侦测缺陷光碟片的方法，其中更包括当该轨道确定位于该缺陷区域时，维持该波浪信号的一增益值。一种侦测缺陷光碟片的方法，包括下列步骤：确定一光学读取头于一锁轨状态存取一轨道上的资料；切割一波浪信号成为一波浪时脉信号；于一第三时间内计数该波浪时脉信号所产生的复数个不合格时脉宽度；当该复数个不合格时脉宽度的一第二计数值大于一第三临限值时，判断该轨道为该缺陷区域，否则，判断该轨道不为该缺陷区域；以及当该轨道确定位于该缺陷区域时，维持该光学读写头的位置不变。如申请专利范围5所述之侦测缺陷光碟片的方法，更包括：于该光学读取头位于该缺陷区域时，当该第二计数值小于一第四临限值时，判断该光学读取头已离开该缺陷区域，其中该第三临限值大于等于该第四临限值。如申请专利范围5所述之侦测缺陷光碟片的方法，更包括：于该光学读取头位于该缺陷区域超过一第四时间时，判断该光学读取头已离开该缺陷区域。如申请专利范围5述之侦测缺陷光碟片的方法，其中更包括当该轨道确定位于该缺陷区域时，维持该波浪信号的一增益值。一种侦测缺陷光碟片的方法，包括下列步骤：确定一光学读取头于一锁轨状态存取一轨道上的资料；根据一波浪信号的一峰对峰值决定该轨道是否为一缺陷区域，其中当该峰对峰值小于一第五临限值时，判断该轨道为该缺陷区域，否则判断该轨道不为该缺陷区域；以及当该轨道确定为该缺陷区域时，维持该光学读写头的位置不变。如申请专利范围9所述之侦测缺陷光碟片的方法，更包括：于该光学读取头位于该缺陷区域时，当该峰对峰值大于一第六临限值时，判断该光学读取头已离开该缺陷区域，其中该第六临限值大于等于该第五临限值。如申请专利范围9所述之侦测缺陷光碟片的方法，更包括：于该光学读取头位于该缺陷区域超过一第五时间时，判断该光学读取头已离开该缺陷区域。如申请专利范围9所述之侦测缺陷光碟片的方法，其中更包括当该轨道确定位于该缺陷区域时，维持该波浪信号的一增益值。