| 主权项 |
一种操作具有多个快闪记忆体晶片之一快闪记忆体装置的方法，该方法包括：识别一快闪记忆体装置中一或多个有缺陷的快闪记忆体晶片；以及使对每个识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之记忆体存取操作失效；标识该快闪记忆体装置以指示该快闪记忆体装置而非该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片中的可用快闪记忆体之一数量。如请求项1之方法，其中使记忆体存取失效包括使至每个识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之一晶片致能信号失效。如请求项2之方法，其中使至每个识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之该晶片致能信号失效包括选自由下列组成的群组之一操作：断开一焊接线路，跳跃式安装用于该晶片致能信号的一焊接线路，缩短用于产生该晶片致能信号之一信号，断开该快闪记忆体装置之一封装上的一晶片致能接针，以及为该晶片致能信号提供一不完整的信号路径。如请求项1之方法，其中使记忆体存取失效包括使对来自该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之电源的存取失效。如请求项4之方法，其中使对来自该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之电源的存取失效包括选自由下列组成的该群组之一操作：断开用于向该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片供应电源之一焊接线路，跳跃式安装用于向该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片供应电源之一焊接线路，雷射熔断向该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片供应操作电源之一电源连接，烧断与该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片相关联之一保险丝，以及为至该识别的晶片之电源提供一不完整的信号路径。如请求项1之方法，其中使记忆体存取失效包括配置一记忆体控制器以使对该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之存取失效。如请求项6之方法，其中配置该记忆体控制器以使对该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之存取失效包括在该快闪记忆体装置中配置一记忆体控制器以不接受从该识别的晶片读取之请求。如请求项6之方法，其中配置该记忆体控制器以使对该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之存取失效包括在该快闪记忆体装置中配置该记忆体控制器以不接受写入该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之请求。如请求项6之方法，其中该配置的记忆体控制器系在该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片中。如请求项1之方法，其进一步包括储存一识别项以指示关于基于该快闪记忆体装置中的该等快闪记忆体晶片而非识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之容量的可用快闪记忆体容量之资讯。如请求项10之方法，其中将该识别项储存在该快闪记忆体装置中。如请求项1之方法，其进一步包括提供该快闪记忆体装置以供销售之用。一种快闪记忆体装置，其具有多个快闪记忆体晶片，该装置包括：一或多个没有缺陷的快闪记忆体晶片；一或多个快闪记忆体晶片，其已加以识别为有缺陷；以及失效构件，其用于使对识别为有缺陷的该一或多个快闪记忆体晶片之存取失效；该快闪记忆体装置上的一标识，其用于指示该没有缺陷的快闪记忆体之一储存容量。如请求项13之快闪记忆体装置，其中该存取失效构件包括用于使至该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之一晶片致能信号失效的构件。如请求项13之快闪记忆体装置，其中该存取失效构件包括用于使对来自该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之电源的存取失效之构件。如请求项13之快闪记忆体装置，其中该存取失效构件包括用于拒绝存取该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之请求的构件。一种制造物品，其包括供执行多个操作的机器可读取指令，该等操作包括：识别至少一个准则以决定一快闪记忆体晶片是否有缺陷；识别提供一标称初始容量之一组快闪记忆体晶片中的一或多个有缺陷的快闪记忆体晶片；以及使该至少一个有缺陷的快闪记忆体晶片失效以提供具有小于该标称初始容量之一操作容量的一快闪记忆体系统；采用该相关联的操作容量来标识一快闪记忆体封装。如请求项17之物品，该等操作进一步包括将该快闪记忆体系统组装于该快闪记忆体封装中。如请求项18之物品，其中该操作容量系实质上等于藉由该等失效晶片之每个的该容量所减小的该标称初始容量。如请求项19之物品，其中该等操作进一步包括使该操作容量与该快闪记忆体封装相关联。如请求项17之物品，其中识别一或多个有缺陷的快闪记忆体晶片包括测试该快闪记忆体封装以根据该至少一个准则来识别至少一个有缺陷的快闪记忆体晶片。如请求项17之物品，其中使该至少一个有缺陷的快闪记忆体晶片失效包括选自由下列组成的该群组之一操作：断开用于向该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片供应电源之一焊接线路；跳跃式安装用于向该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片供应电源之一焊接线路；雷射熔断向该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片供应操作电源之一电源连接；烧断与该识别的晶片相关联之一保险丝；以及为至该识别的有缺陷的快闪记忆体晶片之电源提供一不完整的信号路径。 |
