| 主权项 |
一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体，系对形成预定尺寸的液晶面板，贴合对应该液晶面板尺寸之预定尺寸所形成的光学功能薄膜的薄片，连续制造液晶显示元件的装置所使用的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体，其特征为：在包含含有进行缺陷事先检查的黏着层的光学功能薄膜和可自由剥离地层叠在该黏着层的载体薄膜之连续带状形态的光学薄膜层叠体上，依序形成切割线，该切割线是从和上述载体薄膜的相反侧相对于该光学薄膜层叠体的长方向成直角方向进行切割直达上述载体薄膜的黏着层侧的面的深度为止，藉此在上述载体薄膜上区分对应液晶面板尺寸的具有预定长度之不包含缺陷的正常薄片和包含缺陷的不良薄片，上述正常薄片和上述不良薄片是藉着根据上述事先检查侦测出的缺陷位置所生成的识别手段，可在连续制造液晶显示元件的上述装置中获得识别。如申请专利范围第1项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体，其中，上述识别手段是对上述事先检查所侦测出上述光学薄膜层叠体的缺陷位置赋予的标记。如申请专利范围第1项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体，其中，上述识别手段是构成根据上述事先检查所侦测出缺陷的位置和上述切割线的位置，在连续的2条切割线之间的薄片存在有缺陷时显示该薄片为不良薄片的识别资讯。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，系对形成预定尺寸的液晶面板，贴合对应该液晶面板尺寸之预定尺寸所形成的光学功能薄膜的薄片，连续制造液晶显示元件的装置所使用的制造连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其特征为，分别包含以下步骤：(a)在连续带状形态的偏光片至少一面层叠连续带状形态的保护膜，藉此生成光学功能薄膜的步骤；(b)检查上述光学功能薄膜的表面及内部，藉此侦测出上述光学功能薄膜内存在的缺陷的步骤；(c)透过黏着层将载体薄膜可自由剥离地层叠在进行上述检查后的上述光学功能薄膜上，生成连续带状形态之光学薄膜层叠体的步骤；(d)在上述光学薄膜层叠体依序形成切割线，该切割线是从和上述载体薄膜的相反侧相对于该光学薄膜层叠体的长方向成直角方向进行切割直达上述载体薄膜的上述黏着层侧的面的深度为止，藉此在上述载体薄膜上区分对应液晶面板尺寸的具有预定长度之不包含缺陷的正常薄片和包含缺陷的不良薄片的步骤；(e)生成藉着上述检查所侦测出的缺陷位置，在连续制造液晶显示元件的上述装置可识别上述正常薄片和上述不良薄片用的识别手段的步骤；及(f)将所生成的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体呈卷体状卷绕后加工成连续卷体。如申请专利范围第4项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其中，生成识别手段的上述步骤包含将显示上述检查所侦测出的缺陷位置的标记赋予上述光学薄膜层叠体的步骤。如申请专利范围第4项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其中，生成识别手段的上述步骤包含根据上述检查所侦测出的缺陷位置和上述切割线的位置，生成连续的2条切割线之间的薄片存在有缺陷的场合即构成显示该薄片为不良薄片之识别资讯的步骤。如申请专利范围第4项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其中，侦测光学功能薄膜内存在的缺陷的步骤，包含：藉由反射光主要来检查光学功能薄膜表面的步骤；使光源所照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为影子而侦测出的步骤；及将光学功能薄膜与偏光滤光片，使该等的吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，使光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来侦测出的步骤的其中之一步骤或该等步骤的组合。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，系对形成预定尺寸的液晶面板，贴合对应该液晶面板尺寸之预定尺寸所形成的光学功能薄膜的薄片，连续制造液晶显示元件的装置所使用的制造连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其特征为，分别包含以下步骤：(a)准备至少包含：连续带状形态的偏光片、层叠在该偏光片至少一面的保护膜及形成在一个面上的黏着层所成的光学功能薄膜；及可自由剥离地层叠在该黏着层的拟载体薄膜之连续带状形态的拟光学薄膜层叠体的连续卷体的步骤；(b)从所准备连续带状形态的拟光学薄膜层叠体的连续卷体一边送出拟光学薄膜层叠体一边将拟载体薄膜剥离，藉以使包含黏着层的光学功能薄膜露出的步骤；(c)进行包含所露出黏着层之光学功能薄膜的表面及内部的检查，藉以侦测出包含黏着层之光学功能薄膜内存在的缺陷的步骤；(d)在包含进行缺陷检查后的黏着层之光学功能薄膜的该黏着层上，层叠可自由剥离的载体薄膜，藉以生成连续带状形态之光学薄膜层叠体的步骤；(e)在上述光学薄膜层叠体依序形成切割线，该切割线是从和上述载体薄膜的相反侧相对于该光学薄膜层叠体的长方向成直角方向进行切割直达上述载体薄膜的上述黏着层侧的面的深度为止，藉此在上述载体薄膜上区分具有对应液晶面板尺寸之预定长度的不包含缺陷的正常薄片和包含缺陷的不良薄片的步骤；(f)根据上述检查所侦测出缺陷的位置，在连续制造液晶显示元件的上述装置中生成可识别上述正常薄片和上述不良薄片用的识别手段的步骤；及(g)将所生成的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体呈卷体状卷绕后加工成连续卷体的步骤。如申请专利范围第8项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其中，生成识别手段的上述步骤包含将显示上述检查所侦测出缺陷的位置的标记赋予上述光学薄膜层叠体的步骤。如申请专利范围第8项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其中，生成识别手段的上述步骤包含根据上述检查所侦测出的缺陷位置和上述切割线的位置，生成连续的2条切割线之间的薄片存在有缺陷的场合即构成显示该薄片为不良薄片之识别资讯的步骤。如申请专利范围第8项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造方法，其中，侦测光学功能薄膜内存在缺陷的步骤，包含：藉由反射光主要来检查光学功能薄膜表面的步骤；使从光源照射的光穿透来将光学功能薄膜内存在的缺陷成为影子而侦测出的步骤；及将光学功能薄膜与偏光滤光片，使该等的吸收轴配置成正交偏光，将来自光源的光照射于该处，藉由观察穿透的光，使光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来侦测出的步骤的其中之一或该等步骤的组合。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造装置，系对形成预定尺寸的液晶面板，贴合对应该液晶面板尺寸之预定尺寸所形成的光学功能薄膜的薄片，连续制造液晶显示元件的装置所使用的制造连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的装置，其特征为，包含：(a)在连续带状形态的偏光片至少一面层叠连续带状形态的保护膜，藉此生成光学功能薄膜的光学功能薄膜生成装置；(b)检查光学功能薄膜的表面及内部来侦测出光学功能薄膜内存在缺陷的检查装置；(c)在进行缺陷检查后的上述光学功能薄膜隔着黏着层可自由剥离层叠载体薄膜来生成连续带状形态的光学薄膜层叠体的光学薄膜层叠体生成装置；(d)在上述载体薄膜层叠体依序形成切割线，该切割线是从和上述载体薄膜的相反侧相对于该光学薄膜层叠体的长方向成直角方向进行切割直达上述载体薄膜的上述黏着层侧的面的深度为止，藉此在上述载体薄膜上区分具有对应液晶面板尺寸之预定长度的不包含缺陷的正常薄片和包含缺陷的不良薄片的切割线形成装置；(e)根据上述检查侦测出的缺陷位置，在连续制造液晶显示元件的上述装置中生成可识别上述正常薄片和上述不良薄片用之识别手段的识别手段生成装置；及(f)将所生成的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体卷绕成卷体状并加工成连续卷体的卷绕装置。如申请专利范围第12项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造装置，其中，上述识别手段生成装置是将显示上述检查所侦测出缺陷的位置的标记赋予上述光学薄膜层叠体的标记赋予装置。如申请专利范围第12项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造装置，其中，上述识别手段生成装置包含根据上述检查所侦测出的缺陷位置和上述切割线的位置，生成连续的2条切割线之间的薄片存在有缺陷的场合即构成显示该薄片为不良薄片之识别资讯的识别资讯生成手段。如申请专利范围第12项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的制造装置，其中，检查装置，包含：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜表面的第1检查装置；使从光源照射的光穿透藉此以光学功能薄膜内存在的缺陷成为影子而侦测出的第2检查装置；及使得以偏光滤光片将从光源所照射的光正交偏光穿透后，藉此以光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来侦测出的第3检查装置的其中之一检查装置或该等检查装置的组合。一种连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的生成装置，系对形成预定尺寸的液晶面板，贴合对应该液晶面板尺寸之预定尺寸所形成的光学功能薄膜的薄片，连续制造液晶显示元件的装置所使用的制造连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的生成装置，其特征为，包含：(a)从装配有至少包含连续带状形态的偏光片、层叠在该偏光片至少一面的保护膜及形成在一个面上的黏着层所成的光学功能薄膜，及可自由剥离地层叠在该黏着层的拟载体薄膜之连续带状形态的拟光学薄膜层叠体之连续卷体的该连续卷体送出连续带状形态的拟光学薄膜层叠体的拟光学薄膜层叠体供应装置；(b)将拟载体薄膜从所送出连续带状形态的拟光学薄膜层叠体剥离藉以使包含黏着层的光学薄膜露出的拟载体薄膜剥离装置；(c)藉由进行包含所露出黏着层之光学功能薄膜的表面及内部的检查，侦测出包含黏着层之光学功能薄膜内存在的缺陷的检查装置；(d)在包含进行缺陷检查后的黏着层之光学功能薄膜的该黏着层上，层叠可自由剥离的载体薄膜，藉以生成连续带状形态之光学薄膜层叠体的载体薄膜层叠装置；(e)在上述光学薄膜层叠体依序形成切割线，该切割线是从和上述载体薄膜的相反侧相对于该光学薄膜层叠体的长方向成直角方向进行切割直达上述载体薄膜的黏着层侧的面的深度为止，藉此在上述载体薄膜上区分具有对应液晶面板尺寸之预定长度的不包含缺陷的正常薄片和包含缺陷的不良薄片的切割线形成装置；(f)根据上述检查所侦测出缺陷的位置，在连续制造液晶显示元件的上述装置中生成可识别上述正常薄片和上述不良薄片用之识别手段的识别手段生成装置；及(g)将所生成的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体呈卷体状卷绕后加工成连续卷体的卷绕装置。如申请专利范围第16项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的生成装置，其中，上述识别手段生成装置将显示上述检查所侦测出缺陷的位置的标记赋予上述光学薄膜层叠体的标记赋予装置。如申请专利范围第16项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的生成装置，其中，上述识别手段生成装置，包含：根据上述检查所侦测出的缺陷位置和上述切割线的位置，生成连续的2条切割线之间的薄片存在有缺陷的场合即构成显示该薄片为不良薄片之识别资讯的识别资讯生成手段。如申请专利范围第16项记载的连续带状形态之附带切割线光学薄膜层叠体之连续卷体的生成装置，其中，检查装置，包含：藉由反射光而主要来检查光学功能薄膜表面的第1检查装置；使从光源照射的光穿透藉此以光学功能薄膜内存在的缺陷成为影子而侦测出的第2检查装置；及将光学薄膜和偏光滤光片的该等吸收轴配置成正交偏光，对此照射来自光源的光并观察穿透后的光，藉此以光学功能薄膜内存在的缺陷成为亮点来侦测出的第3检查装置的其中之一检查装置或该等检查装置的组合。 |
