| 主权项 |
一种表面污点检测系统，其包括：至少一影像获取装置，用于获取待测物表面之影像，并从该影像中取得各画素点之亮度值；至少一光源装置，用于照亮所述待测物之表面；以及一与影像获取装置电气连接之讯号处理装置，用于对所得之各画素点之亮度值求和，求各画素点之亮度值之平均值，并将各画素点之亮度值与该所求之平均值比较以检测所述待测物之表面之各画素点之亮度值是否符合预定之标准值，并对亮度值大于平均值之画素点进行标注。如申请专利范围第1项所述之表面污点检测系统，其中，所述影像获取装置为一相机模组。如申请专利范围第1项所述之表面污点检测系统，其中，所述影像获取装置之数量为两个，该两个影像获取装置所能从待测物获取之总面积与待测物表面之面积相当。如申请专利范围第1项所述之表面污点检测系统，其中，所述表面污点检测系统还包括一用于放置所述待测物之移动平台，用于带动所述待测物移动。如申请专利范围第4项所述之表面污点检测系统，其中，所述移动平台作二维移动。如申请专利范围第4项所述之表面污点检测系统，其中，所述移动平台具有一于该移动平台相连之传动机构，用于控制该移动平台作二维移动。如申请专利范围第1项所述之表面污点检测系统，其中，所述光源装置包括一光源及一与该光源电气连接之光源控制器，所述光源控制器用于控制光源之亮度。如申请专利范围第7项所述之表面污点检测系统，其中，所述光源为氦氖镭射管。如申请专利范围第1项所述之表面污点检测系统，其中，所述表面污点检测系统还包括一主控系统，该主控系统分别与讯号处理装置及光源装置电气连接，用于配合并控制所述信号处理装置及光源装置之工作。如申请专利范围第9项所述之表面污点检测系统，其中，所述主控系统为一电脑。一种表面污点检测方法，其包括下列步骤：开启光源装置，使其照亮待测物表面；由影像获取装置从待测物表面获取一影像，并从该影像中取得各画素点之亮度值；由信号处理装置对所得之各画素点之亮度值求和，并求其平均值；由信号处理装置将所有画素点之亮度值与该平均值比较；若一画素点之亮度值大于该平均值，则该画素点为污点，并将该污点标注。如申请专利范围第11项所述之表面污点检测方法，其中，所述表面污点检测方法在获得待测物之影像后还包括对所获取之影像信号进行杂讯过滤之步骤。 |
