发明名称 决定单位区间内超取样资料之晶片、系统及方法
摘要
申请公布号 申请公布日期 2011.09.11
申请号 TW096140133 申请日期 2007.10.25
申请人 矽像公司 发明人 崔宏
分类号 G06F9/44 主分类号 G06F9/44
代理机构 代理人 江国庆 台北市光复北路11巷46号11楼
主权项 一种决定单位区间内超取样资料之晶片,包含:取样电路,用以从接收讯号产生过度取样资料;以及运算逻辑,用以决定不同单位时区部份之该过度取样资料,其中部分该单位时区之该过度取样资料数不同于该单位时区内通常之该过度取样资料数。如申请专利范围第1项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中依据至少部分该决定,该运算逻辑估算一区段之该过度取样资料,以及预测估算发生于该区段之时序后之增加过度取样资料。如申请专利范围第2项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中依据部分决策,该过度取样资料编排于线程中,该区段于该线程之一中,及该增加过度取样资料于另一线程中。如申请专利范围第2项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中该运算逻辑包含流水线之层级,当进一步通过该层级时,该过度取样资料编排于该线程中,且该运算逻辑同时估算不同区段之该过度取样资料于不同线程中。如申请专利范围第4项中所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中依据至少部分决策,该运算逻辑估算一区段之该过度取样资料,且预测估算发生于该区段之时序后增加之该过度取样资料。如申请专利范围第5项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中部分决策,该区段为该线程中之该过度取样资料之最后群组,且该增加过度取样资料为于时序中下一线程之该过度取样资料之第一群组。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中该线程中之该过度取样资料,根据该过度取样资料建立时,依序保持于该层级中,如此第一线程被建立时将第一个通过流水线。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中于一特定层级中估算一线程之至少一区段系藉由一指标识别于该层级中,其中当该线程资料于流水线中前进时,藉由一数值相同于该过度取样资料数,该指标向前移动至该线程之末端,该数值系由前一层级所发现,以包含于一单位时区内。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中该流水线中较后之该部分层级较前之该部分层级具有较小之容量。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中于该线程中估算之该过度取样资料在一层级中移动其相对位置,如同该线程前进通过至少部分层级。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中该运算逻辑根据该单位区间之内容进一步决定输出位元数值,且当每一线程通过全部层级时,该线程通常提供一特定位元数;若该线程提供超过于该特定位元数之倍数,此时该决策为一将来线程,直到该将来线程提供之位元数少于该特定位元数;若该线程提供少于该特定位元数之倍数,此时该决定为一未来线程,直到该未来线程提供之位元数多于特定位元数。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中该线程具有50笔过度取样资料数,一般为于每一单位时区内有5笔取样资料,且平均于50笔该过度取样资料数中有10个输出位元。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中该运算逻辑使用对照表作为决策之辅助。如申请专利范围第4项所述之决定单位区间内超取样资料之晶片,其中该运算逻辑中包含前过滤动作,于决策前改变某些过度取样资料之值。一种决定单位区间内超取样资料之方法,其步骤包含:取样一接收资料以产生过度取样资料;以及决策,以决定不同单位时区部分之过度取样资料,其中部分该单位时区具有之该过度取样数,不同于该单位时区内通常之该过度取样数。如申请专利范围第15项中所述之决定单位区间内超取样资料之方法,其中至少部分决策,该运算逻辑估算一区段之该过度取样资料,并且预测估算发生于该区段之时序后增加之该过度取样资料。如申请专利范围第16项中所述之决定单位区间内超取样资料之方法,其中依据该部分决策之该过度取样资料编排于该线程中,该区段于该线程之一中,及该增加过度取样资料于另一线程中。如申请专利范围第15项中所述之决定单位区间内超取样资料之方法,其中该运算逻辑包含流水线之层级,当进一步通过该层级时,该过度取样资料编排于该线程内,且该运算逻辑同时估算不同区段之该过过度取样资料于不同线程中。如申请专利范围第15项中所述之决定单位区间内超取样资料之方法,其中依据至少部分决策,该运算逻辑估算一区段之该过度取样资料,且预测估算发生于该区段之时序后增加之该过度取样资料。如申请专利范围第19项中所述之决定单位区间内超取样资料之方法,其中依据至少部分决策,该区段为该线程中之该过度取样资料之最后群组,且该增加过度取样资料为于时序中之下一线程之该过度取样资料之第一群组。一种决定单位区间内超取样资料之系统,其包含:导线;一第一晶片包含发射器,其传输资料至导线;以及一第二晶片作为接收来自导线之该传输资料,该第二晶片具有处理电路,其包含:取样电路,用以由接收之该传输资料讯号产生一过度取样资料;以及运算逻辑,用以决定不同单位时区部份之该过度取样资料,其中部分该单位时区之该过度取样资料数不同于该单位时区通常之该过度取样资料数。如申请专利范围第21项所述之决定单位区间内超取样资料之系统,其中依据至少部分决策,该运算逻辑估算一区段之该过度取样资料,其具有特定之过度取样资料数,且预测估算发生于该区段之时序后之增加过度取样资料。如申请专利范围第22项所述之决定单位区间内超取样资料之系统,其中依据部分决策,该过度取样资料编排于线程中及该区段为该线程中之一,且该增加之过度取样资料为另一线程。如申请专利范围第22项所述之决定单位区间内超取样资料之系统,其中该运算逻辑包含该线程中之层级,当该过度取样资料进一步通过该层级时,该过度取样资料安排于该线程中,且该运算逻辑同时估算不同该区段之该过度取样资料于不同该线程中。如申请专利范围第24项所述之决定单位区间内超取样资料之系统,其中依据至少部分决策,该运算逻辑估算一区段之该过度取样资料,其具有特定数量之该过度取样资料,且预测估算发生于该区段之时序后增加之该过度取样资料。如申请专利范围第25项所述之决定单位区间内超取样资料之系统,其中依据至少部分决策,该区段为该线程中之该过度取样资料之最后群组,以及该增加过度取样资料为下一线程时序中之该过度取样资料之第一群组。如申请专利范围第21项所述之决定单位区间内超取样资料之系统,其中该处理电路根据该单位时区中之内容进一步决定输出位元值,且提供输出回应讯号,且该系统进一步包含一显示器,其接收至少部分输出讯号。
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