发明名称 Parametermessung von Hochgeschwindigkeits-I/O-Systemen
摘要 Ein Verfahren zum Verwenden eines Phasenkomparators (121), der Teil einer Phasenverfolgungsschaltung (107) ist, wobei die Phasenverfolgungsschaltung (107) auf einer Phasenregelschleifenschaltung oder auf oder einer Verzögerungsregelschleife basiert, um eine Eingangs-Ausgangs-Schaltung (I/O-Schaltung) eines Testobjekts zu testen, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: Empfangen (702) eines Signals (109) an dem Testobjekt, wobei das Signal (109) digitale Daten repräsentiert; Extrahieren (704) eines Phasensignals (23; 123) aus dem Phasenkomparator, wobei der Phasenkomparator (121) das Phasensignal (123) ansprechend auf das empfangene Signal (109) erzeugt, so dass das Phasensignal eine oder mehrere Digitalkomponenten (E, L) aufweist, wobei die eine oder die mehreren Digitalkomponenten anzeigen, ob die Phase eines Eingangssignals des Phasenkomparators der Phase eines Vergleichssignals vorauseilt, oder ob die Phase des Eingangssignals des Phasenkomparators der Phase des Vergleichssignals nacheilt, und wobei die Phasenverfolgungsschaltung basierend auf dem Phasensignal das Vergleichssignal steuert, um eine Phasendifferenz zwischen dem Vergleichssignal und dem Eingangssignal des Phasenkomparators zu verringern;...
申请公布号 DE112006001266(B4) 申请公布日期 2011.09.08
申请号 DE200611001266T 申请日期 2006.05.18
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) 发明人 HILLIGES, KLAUS-DIETER;SEET, ADRIAN W. C.;WALLACE, HUGH S.
分类号 H04L25/49;G01R31/3183;G01R31/3187 主分类号 H04L25/49
代理机构 代理人
主权项
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