发明名称 一种激光近场强度分布测量装置
摘要 本发明公开了一种激光近场强度分布测量装置,所述装置中的CCD底座、衰减片组框、缩束镜头支架依次固定于底座上,滤光片框通过螺纹与CCD的接口直接连接,衰减片组框的一端通过圆形凸起与滤光片框连接,另一端通过螺纹与缩束镜头连接。不同口径的激光经过本发明中的倍率合适的缩束镜头缩束为与CCD像面尺寸相匹配的细光束,再经过倍率合适的衰减片的组合,将激光强度衰减至CCD可接受的范围,通过相应波长的窄带滤光片后,仅有被测波长激光进入CCD,CCD直接测量被测激光的近场强度分布,确保测量结果反映被测激光的真实近场特性。本发明的激光近场强度分布测量装置结构简单,使用方便。
申请公布号 CN102175310A 申请公布日期 2011.09.07
申请号 CN201110053653.2 申请日期 2011.03.07
申请人 中国工程物理研究院应用电子学研究所 发明人 田英华;叶一东;李国会
分类号 G01J1/00(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I 主分类号 G01J1/00(2006.01)I
代理机构 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人 翟长明;韩志英
主权项 一种激光近场强度分布测量装置,其特征在于:所述的测量装置含有CCD(1)、窄带滤光片(2)、衰减片(3)、缩束镜头(4)、衰减片组框(5)、CCD底座(6)、缩束镜头支架(7)、滤光片框和底座(8);所述衰减片组框(5)由数个衰减片框组成; 所述CCD底座(6)、衰减片组框(5)、缩束镜头支架(7)依次固定于底座(8)上;CCD(1)与CCD底座(6)连接,缩束镜头(4)与缩束镜头支架(7)连接;窄带滤光片(2)置于滤光片框内,滤光片框通过螺纹与CCD(1)的接口直接连接;衰减片置于衰减片组框(5)中,衰减片组框(5)的一端通过圆形凸起与滤光片框连接,另一端通过螺纹与缩束镜头(4)连接;CCD(1)、窄带滤光片(2)、衰减片(3)、缩束镜头(4)均为同心,且中心高度与被测激光光轴高度相同。
地址 621900 四川省绵阳市919信箱1012分箱