一种基于Pockels效应的二维表面电荷测量系统及其测量方法

摘要

本发明公开了一种基于Pockels效应的二维表面电荷测量系统及其测量方法，该测量系统包括测量核心单元、检偏器和相机，检偏器位于核心测量单元与相机之间；所述测量核心单元由LED平面光源、圆偏振片和Pockels晶体构成，圆偏振片设置在LED平面光源和Pockels晶体之间，Pockels晶体设置在靠近检偏器的一侧；所述Pockels晶体以光学玻璃为衬底，粘贴在光学玻璃的外侧，光学玻璃内侧镀有氧化铟锡透明导电薄膜做为地电极。该方法能够在绝缘材料放电过程中快速动态地记录二维表面电荷的发展过程并同时反演电荷的极性和密度信息，并且该装置结构简单，实现方便，在材料表面放电研究中提供了很好的研究手段。

主权项

一种基于Pockels效应的二维表面电荷测量系统，其特征在于：包括测量核心单元、检偏器和相机，检偏器位于核心测量单元与相机之间；所述测量核心单元由LED平面光源、圆偏振片和Pockels晶体构成，圆偏振片设置在LED平面光源和Pockels晶体之间，Pockels晶体设置在靠近检偏器的一侧；所述Pockels晶体以光学玻璃为衬底，粘贴在光学玻璃的外侧，光学玻璃内侧镀有氧化铟锡透明导电薄膜做为地电极；在Pockels晶体外侧覆盖被测透明绝缘材料，被测透明绝缘材料上连接有接高压的针电极。