| 发明名称 | 测量物料水分的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提出一种测量物料水分的方法及装置。其中，该方法包括以下步骤：向所要测量的物料发射微波信号，并接收透射过所述物料的微波信号；通过超声测距的方法测量所述物料的厚度；以及根据所述发射的微波信号、所述接收的微波信号和所述物料的厚度，确定所述物料的水分含量。本发明通过将超声测距技术与微波透射技术相结合，利用超声测距技术测量的物料厚度信息与微波的相位变化和幅度变化信息确定物料的水分含量，提高水分测量的精度。 | ||
| 申请公布号 | CN102175696A | 申请公布日期 | 2011.09.07 |
| 申请号 | CN201110035905.9 | 申请日期 | 2011.02.10 |
| 申请人 | 清华大学 | 发明人 | 衣宏昌;林谦;梁漫春;孙宇;杨洁 |
| 分类号 | G01N22/04(2006.01)I;G01B17/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N22/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人 | 张大威 |
| 主权项 | 一种测量物料水分的方法，其特征在于，包括以下步骤：向所要测量的物料发射微波信号，并接收透射过所述物料的微波信号；通过超声测距的方法测量所述物料的厚度；以及根据所述发射的微波信号、所述接收的微波信号和所述物料的厚度，确定所述物料的水分含量。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区100084-82信箱 | ||