发明名称 ESD测试设备
摘要 本实用新型涉及一种ESD测试设备,包括控制模块、测试模块、静电放电模块和高压电源模块,所述静电放电模块与高压电源模块汇合连接控制模块,控制模块通过线路分别连接计算机和测试模块,测试模块通过测试接入端口连接静电放电模块,静电放电模块分别连接待测电路和高压电源模块。本实用新型的有益效果为:本实用新型具有设计合理、性能稳定、电路结构简单、控制方便、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点,本测试设备基于ESD测试技术,能够准确测试处芯片的工作是否正常,满足了检测芯片是否被静电打坏以及损坏程度的测试需要。
申请公布号 CN201965202U 申请公布日期 2011.09.07
申请号 CN201020576379.8 申请日期 2010.10.26
申请人 无锡日松微电子有限公司 发明人 刘若云
分类号 G01R31/3167(2006.01)I 主分类号 G01R31/3167(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种ESD测试设备,包括控制模块(1)、测试模块(2)、静电放电模块(3)和高压电源模块(4),其特征在于:静电放电模块(3)与高压电源模块(4)汇合连接控制模块(1),控制模块(1)通过线路分别连接计算机(5)和测试模块(2),测试模块(2)通过测试接入端口连接静电放电模块(3),静电放电模块(3)分别连接待测电路(6)和高压电源模块(4)。
地址 214072 江苏省无锡市滨湖区太湖大道1890号太湖明珠发展大厦5层510室