发明名称 自适应相控阵的快速测试系统及其测试方法
摘要 本发明涉及一种自适应相控阵的快速测试系统包括馈源(1)、伺服系统(2)、伺服控制(3)、自适应相控阵(4)、参考数字组件(5)、监测数字组件(6)、自适应相控阵的频率源(7)、自适应相控阵的数据采集和记录设备(8)和自适应相控阵的雷达控制(9);监测数字组件与馈源相连;参考数字组件的发射通道与接收通道连接;监测数字组件和参考数字组件接收通道的数字信号均可送入自适应相控阵的数据采集和记录设备;自适相控阵的频率源同时将时钟信号送入自适应相控陈的数字组件、监测数字组件和参考数字组件;自适应相控阵的雷达控制与伺服控制连接,伺服控制和伺服系统相连。
申请公布号 CN102175996A 申请公布日期 2011.09.07
申请号 CN201010538491.7 申请日期 2010.11.10
申请人 中国电子科技集团公司第十四研究所 发明人 王侃;叶评;陈列
分类号 G01S7/40(2006.01)I 主分类号 G01S7/40(2006.01)I
代理机构 南京知识律师事务所 32207 代理人 汪旭东
主权项 一种自适应相控阵的快速测试系统包括馈源、伺服系统、伺服控制、自适应相控阵、参考数字组件、监测数字组件、自适应相控阵的频率源、自适应相控阵的数据采集和记录设备和自适应相控阵的雷达控制;监测数字组件与馈源相连;参考数字组件的发射通道与接收通道连接;监测数字组件和参考数字组件接收通道的数字信号均可送入自适应相控阵的数据采集和记录设备;自适相控阵的频率源同时将时钟信号送入自适应相控阵的数字组件、监测数字组件和参考数字组件;自适应相控阵的雷达控制与伺服控制连接,伺服控制和伺服系统相连。
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