发明名称 |
全局金属膜厚度测量装置 |
摘要 |
本发明为一种全局金属膜厚度测量装置,包括底座,底座上固定有转台和直线单元,转台包括定子部分和转子部分,定子部分固定在底座上,转子部分上固定工作台,工作台内有真空管路,转子部分的旋转接头与所述真空管路相连,直线单元包括导轨和可沿导轨滑动的滑块,导轨固定在底座上,滑块上固定连接水平的悬臂,悬臂的另一端设置有测头,测头内设电涡流探头;滑块也可以与悬臂铰接,滑块上固定电磁铁,悬臂一端下方固定铁块,另一端设置测头,测头内设电涡流探头和竖直的通气孔及节流孔,通气孔和节流孔同轴相连后贯通测头,本发明能够实现探头与被测工件之间提离高度的自适应,不受设备机械运动精度的影响;能够实现探头与被测工件之间较小的提离高度,而探头与工件不会接触。 |
申请公布号 |
CN102175133A |
申请公布日期 |
2011.09.07 |
申请号 |
CN201110046521.7 |
申请日期 |
2011.02.25 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
赵德文;曲子濂;路新春;赵乾;何永勇;孟永钢;雒建斌 |
分类号 |
G01B7/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01B7/06(2006.01)I |
代理机构 |
西安智大知识产权代理事务所 61215 |
代理人 |
贾玉健 |
主权项 |
一种全局金属膜厚度测量装置,包括底座(10),其特征在于,底座(10)上固定有转台(20)和直线单元(30),转台(20)包括定子部分(21)和转子部分(22),定子部分(21)固定在底座(10)上,转子部分(22)上固定工作台(50),工作台(50)内有真空管路,转子部分(22)的旋转接头(23)与所述真空管路相连,直线单元(30)包括导轨(31)和可沿导轨(31)滑动的滑块(32),导轨(31)固定在底座(10)上,滑块(32)上固定连接水平的悬臂(40),悬臂(40)的另一端设置有与工作台(50)台面相对的测头(80),测头(80)内设置电涡流探头(82)。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |