发明名称 |
制造薄膜半导体结构的方法 |
摘要 |
本发明公开了制作一种薄膜氮化镓(GaN)基半导体结构的方法。依照本发明的一个实施例,方法包括的步骤:提供一个蓝宝石基板;按顺序形成一个或多个半导体层在蓝宝石基板上;蚀刻一个图案在一个或多个半导体层上;沉积一电介质层;形成一光刻胶在部分电介质层上;其中部分电介质层被沉积在一个或多个半导体层上;沉积一个底涂料;去除光刻胶层,其中在光刻胶上的底涂料也被去除;沉积一种超硬材料,其中超硬材料形成在图案上;去除蓝宝石基板。所以,超硬材料可被有选择性沉积在期望有超硬材料的区域。然后,垂直结构GaN基发光装置可以通过切割半导体结构而形成。 |
申请公布号 |
CN101617415B |
申请公布日期 |
2011.09.07 |
申请号 |
CN200980000021.0 |
申请日期 |
2009.03.27 |
申请人 |
香港应用科技研究院有限公司 |
发明人 |
蔡勇;褚宏深;郑盛梅;陈家华 |
分类号 |
H01L33/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 |
代理人 |
江耀纯 |
主权项 |
一种制作一个薄膜氮化镓(GaN)基半导体结构的方法,此方法包括:提供一个蓝宝石基板;在蓝宝石基板上顺序地形成一个或多个半导体层;在一个或多个半导体层上蚀刻出一个图案;沉积一电介质层;形成一光刻胶在部分电介质层上,其中部分电介质层被沉积在一个或多个半导体层上;沉积一底涂料;去除光刻胶层,其中在光刻胶上的底涂料也被去除;沉积一超硬材料,其中超硬材料形成在图案上;和去除蓝宝石基板。 |
地址 |
中国香港新界沙田香港科学园科技大道西二号生物资讯中心三楼 |