发明名称 制造薄膜半导体结构的方法
摘要 本发明公开了制作一种薄膜氮化镓(GaN)基半导体结构的方法。依照本发明的一个实施例,方法包括的步骤:提供一个蓝宝石基板;按顺序形成一个或多个半导体层在蓝宝石基板上;蚀刻一个图案在一个或多个半导体层上;沉积一电介质层;形成一光刻胶在部分电介质层上;其中部分电介质层被沉积在一个或多个半导体层上;沉积一个底涂料;去除光刻胶层,其中在光刻胶上的底涂料也被去除;沉积一种超硬材料,其中超硬材料形成在图案上;去除蓝宝石基板。所以,超硬材料可被有选择性沉积在期望有超硬材料的区域。然后,垂直结构GaN基发光装置可以通过切割半导体结构而形成。
申请公布号 CN101617415B 申请公布日期 2011.09.07
申请号 CN200980000021.0 申请日期 2009.03.27
申请人 香港应用科技研究院有限公司 发明人 蔡勇;褚宏深;郑盛梅;陈家华
分类号 H01L33/00(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2006.01)I
代理机构 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人 江耀纯
主权项 一种制作一个薄膜氮化镓(GaN)基半导体结构的方法,此方法包括:提供一个蓝宝石基板;在蓝宝石基板上顺序地形成一个或多个半导体层;在一个或多个半导体层上蚀刻出一个图案;沉积一电介质层;形成一光刻胶在部分电介质层上,其中部分电介质层被沉积在一个或多个半导体层上;沉积一底涂料;去除光刻胶层,其中在光刻胶上的底涂料也被去除;沉积一超硬材料,其中超硬材料形成在图案上;和去除蓝宝石基板。
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