发明名称 光学相干断层成像方法和光学相干断层成像装置
摘要 一种光学相干断层成像方法和光学相干断层成像装置,所述光学相干断层成像方法的特征在于,执行第一步骤(S1),获取波长谱;第二步骤(S2),增加所述波长谱的元素数量;第三步骤(S3和S4),将所述波长谱转换为波数谱,并且减少所述元素数量,以提供相等间隔的波数谱;以及第四步骤(S5),从所述波数谱获取待检查对象的断层信息。结果,可以获得忠实于物理现象的相等间隔的波数谱,并且可以获得更精确的断层信息。
申请公布号 CN101639339B 申请公布日期 2011.09.07
申请号 CN200910160202.1 申请日期 2009.07.30
申请人 佳能株式会社 发明人 末平信人
分类号 G01B9/02(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I;A61B3/00(2006.01)I 主分类号 G01B9/02(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 魏小薇
主权项 一种光学相干断层成像装置中的光学相干断层成像方法,其中,来自光源的光被划分为测量光和参考光,所述测量光通过样品臂被照射到待检查对象,来自所述待检查对象的返回光通过检测光路被引导至检测位置,以及所述参考光通过参考臂被引导至所述检测位置,由此,获得由均被引导至所述检测位置的所述返回光与所述参考光的干涉而产生的干涉光的波长谱,并且由对所述波长谱进行分析的波长谱分析单元摄取所述待检查对象的断层图像,所述光学相干断层成像方法包括:波长谱获取步骤,获取所述波长谱;以及波数谱获取步骤,将所述波长谱转换为波数谱,并且减少元素数量,以提供相等间隔的波数谱;断层信息获取步骤,从所述相等间隔的波数谱获取所述待检查对象的断层信息。
地址 日本东京