| 主权项 |
一种参考电压产生器，用以提供一预设参考电压，包括：一电压调整器，其耦接到一外部电源以产生包含一输入节点之一调整电压源；一带隙电压电路，包括：一第一电晶体，其耦接到该调整电压源；一第一电阻，其耦接到该第一电晶体；一第二电晶体，其耦接到该第一电阻、该第一电晶体和该调整电压源，以在该第一电晶体和该第二电晶体的基极－射极电压之间产生一电压差；以及一第二电阻，其耦接到该第一电阻和该第一电晶体，用以产生该预设参考电压以回应该电压差；以及一放大电路，其耦接到该带隙电压电路之该第二电晶体，用于接受一第一放大信号，以产生一放大后之信号以回应该第一放大信号，其中，该放大后之信号被传送至该电压调整器的该输入节点，用以调整该调整电压源。如申请专利范围第1项的参考电压产生器，进一步包括一电流镜，其耦接到该调整电压源以向该第一电晶体提供一第一电流以及向该第二电晶体提供一第二电流。如申请专利范围第1项的参考电压产生器，其中，该放大电路系为一差动放大电路。如申请专利范围第3项的参考电压产生器，其中，该差动放大电路还耦接到该第一电晶体，用于接受一第二放大信号，以产生该放大后之信号以回应该第一放大信号和该第二放大信号。如申请专利范围第1项的参考电压产生器，进一步包括：一电压源电流镜，其耦接到该外部电源和该电压调整器，以产生该电压调整器的该调整电压源以回应该电压源电流镜之一输出。如申请专利范围第5项的参考电压产生器，其中，该电压源电流镜系为自偏压。如申请专利范围第1项的参考电压产生器，进一步包括：一第三电阻，其耦接到该第一电晶体和该第二电晶体，以补偿该第一电晶体和该第二电晶体的基极电流的影响。如申请专利范围第1项的参考电压产生器，进一步包括：多个电阻，耦接于该调整电压源和该预设参考电压之间，以产生至少一高于该预设参考电压的参考电压。如申请专利范围第1项的参考电压产生器，进一步包括：多个电阻，其耦接于该预设参考电压和地之间，以产生至少一低于该预设参考电压的参考电压。如申请专利范围第1项的参考电压产生器，进一步包括：一补偿电容和一补偿电阻，其系串联耦接至该电压调整器之该输入节点。一种参考电压产生器，包括：一电压调整电路，其耦接到一外部电源，以产生一调整电压；一带隙参考电压电路，其耦接到该电压调整电路，以接收该调整电压，并产生一第一参考电压；一放大电路，耦接到该带隙参考电压电路和该电压调整电路以稳定该调整电压；以及一第一分压器，其耦接于该调整电压和该第一参考电压之间，用以产生高于该第一参考电压的一第二参考电压。如申请专利范围第11项的参考电压产生器，其中，该第一分压器包括两电阻，以在该两电阻之间的一节点处产生该第二参考电压。如申请专利范围第11项的参考电压产生器，进一步包括：一第二分压器，其耦接于该第一参考电压和地之间，以产生低于该第一参考电压的一第三参考电压。如申请专利范围第13项的参考电压产生器，其中，该第二分压器包括两电阻，以在该两电阻之间的一节点处产生该第三参考电压。如申请专利范围第11项的参考电压产生器，进一步包括：一第一电晶体耦接至该调整电压；一第一电阻耦接至该第一电晶体；一第二电晶体耦接至该第一电阻、该第一电晶体和该调整电压，以在该第一电晶体及该第二电晶体的基极－射极电压之间产生一电压差；以及一第二电阻耦接至该第一电阻和该第一电晶体，以产生该第一参考电压以回应该电压差。如申请专利范围第15项的参考电压产生器，其中，该放大电路系为一差动放大器，包括两输入耦接至该第一电晶体和该第二电晶体。如申请专利范围第15项的参考电压产生器，进一步包括：一电流镜，其耦接到该调整电压，以向该第一电晶体提供一第一电流和向该第二电晶体提供一第二电流。如申请专利范围第11项的参考电压产生器，进一步包括：一电压源电流镜，其耦接到该外部电源，用于产生流经该电压调整电路的一电流，以产生该调整电压。一种提供多个参考电压的方法，包括：调整一外部电源以产生一调整电压；透过耦接至该调整电压的一带隙电压电路，产生一第一参考电压；通过耦接于该调整电压和该第一参考电压之间的分压器，产生一第二参考电压；放大来自该带隙电压电路的一信号以产生一调整信号；以及回授控制该调整电压以回应该调整信号。 |
