| 主权项 |
一种用于检查基板的基准值之设定方法，系针对以经过零件组装基板之制造的中间步骤的基板为对象之检查，设定用于判定对于检查对象部位之测量值的好坏之基准值之方法，其特征为：针对同一种类的复数个基板，在分别实行中间步骤之后，个别测量各检查对象部位，并且在实行最终步骤之后判定各零件的组装状态之好坏，并将各测量结果以及判定结果预先储存于记忆体，针对前述复数个基板之间使用共通基准值的检查对象部位，实行初始设定前述基准值的处理之后，在最终步骤之后的判定处理中，以获得「良好」或「不良」之任一判定的基板为对象，一边变更基准值一边重复实行算出获得在前述基准值表示「不良」或「良好」之范围内所包含之测量值的基板数之处理，选择表示已算出之基板数量相对于已于前述记忆体中储存测量结果及判定结果的基板总数为与已预先设定之判定不相符的发生次数之容许值对应的比率时之基准值，作为最合适的基准值。如申请专利范围第1项之设定方法，其中，在初始设定前述基准值的处理中，针对前述复数基板之间使用共通基准值的检查对象部位，以最终步骤后之判定处理中获得「良好」或「不良」之判定结果的基板为对象，从记忆体中读出在中间步骤后之测量处理中获得的各测量值，以与这些测量值之分布范围和不分布范围之交界位置对应的测量值来作为基准值之初始值。如申请专利范围第1或2项之设定方法，其中，在实行前述基准值的初始设定处理之后，以在最终步骤后之判定处理中前述检查对象部位被判定为「良好」的基板为对象，来算出获得在基准值表示「不良」之范围内所包含之测量值的基板数。如申请专利范围第1或2项之设定方法，其中，在实行前述基准值的初始设定处理之后，以在最终步骤后之判定处理中前述检查对象部位被判定为「不良」的基板为对象，来算出获得在基准值表示「良好」之范围内所包含之测量值的基板数。一种用于检查基板的基准值之设定装置，系针对以经过零件组装基板之制造的中间步骤的基板为对象之检查，设定用于判定对于检查对象部位之测量值的好坏之基准值之装置，其具备：第1输入手段，从设置于前述中间步骤的检查机中至少接收针对各检查对象部位之测量结果的输入，并且从设置于最终步骤之检查机接收检查结果的输入；记忆体，储存从前述第1输入手段输入的资讯；第2输入手段，针对前述中间步骤之检查结果和最终步骤之检查结果之间发生不相符的次数，接收表示容许值的资讯之输入；基准值设定手段，使用已储存于前述记忆体的资讯以及第2输入手段所接收之容许值，针对在同一种类的复数个基板之间使用共通基准值的检查对象部位，设定与此部位对应的基准值；以及输出手段，将由前述基准值设定手段所设定之基准值输出至前述中间步骤的检查机；前述基准值设定手段系针对处理对象之检查对象部位，于初始设定前述基准值之后，以在设置于最终步骤的检查机中获得「良好」或「不良」之任一判定的基板为对象，一边变更基准值一边重复实行算出获得在前述基准值表示「不良」或「良好」之范围内所包含之测量值的基板数之处理，且选择表示已算出之基板数量相对于已于前述记忆体中储存测量结果及判定结果的基板总数为与前述容许值对应的比率时之基准值，作为最合适的基准值。一种记录有用于检查基板的基准值设定用之程式之记录媒体，该程式系使电脑实行以下处理：针对以经过零件组装基板之制造的中间步骤的基板为对象之检查，设定用于判定对于检查对象部位之测量值的好坏之基准值；该程式包含使前述电脑发挥作为资讯储存手段及基准值设定手段之功能的程式：该资讯储存手段系针对设置于前述中间步骤的检查机，至少将对于各检查对象部位之测量结果储存于前述电脑的记忆体，并且针对设置于最终步骤的检查机，将对于各检查对象部位的检查结果储存于前述记忆体；以及该基准值设定手段系针对前述中间步骤之检查结果和最终步骤之检查结果之间发生不相符的次数，输入目标值于前述电脑时，使用前述记忆体所储存之资讯及输入之目标值，针对在同一种类的复数个基板之间使用共通基准值的检查对象部位，设定与此部位对应之基准值，前述基准值设定手段系构成为：针对处理对象之检查对象部位，于初始设定前述基准值之后，以在设置于最终步骤的检查机中获得「良好」或「不良」之任一判定的基板为对象，一边变更基准值一边重复实行算出获得在前述基准值表示「不良」或「良好」之范围内所包含之测量值的基板数量之处理，且选择表示已算出之基板数量相对于已在前述记忆体中储存测量结果及判定结果之基板总数为与前述目标值对应的比率时之基准值，作为最合适的基准值。 |
