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一种反射面(14)之形状测量方法，其包括一个系统，此系统具有至少一个反射于反射面(14)上的图像(15)及至少一台以逐个像素方式观视反射面(14)上之图像(15)的摄影机(1)，而该摄影机(1)与图像(15)之位置及方位为已知，其特征在于：由摄影机(1)像素(8)之已知视向、及所反射图像(15)在摄影机(1)像素(8)上成像的位置，求出表面角度及表面高度，供形状测量之用。如申请专利范围第1项之方法，其中，摄影机(1)每一像素(8)之视向为已知。如申请专利范围第1或2项之方法，其中，进一步以相评估法、时间编码法、及/或频率编码法分析摄影机(1)拍摄之图像(15)。如申请专利范围第1项之方法，其中，进一步准确求出反射面(14)上一支点之表面高度及/或表面角度，再由其估算出与此支点相邻的一点之表面高度，并由此求出表面角度。如申请专利范围第1项之方法，其中，进一步准确求出被一个设置在图像(15)前方的记号(9)遮盖的定义图像点(11)，以准确辨识表面点，并且，求出记号(9)反射于表面的表面点之绝对表面高度。如申请专利范围第5项之方法，其中：记号(9)系由一个设置在图像(15)前方的物件(18)所构成，由摄影机表面点成像像素(8)之已知视向、及被遮盖的图像点(11)，得到一平面，以及，求出物件(18)与此平面之交点(19)。如申请专利范围第5或6项之方法，其中，记号(9)或物件(18)为圆形或线状。如申请专利范围第1项之方法，其中，求取表面高度时，假设反射面为平面，而由两个图像点的已知距离估算其高度，并由此求出角度。如申请专利范围第1项之方法，其中，进一步使多个支点构成一光栅而反射于欲测量的表面(14)。如申请专利范围第1项之方法，其中，进一步使图像(15)由粗图像(15)开始连续地细致化。如申请专利范围第1项之方法，其中，进一步使不同的图像结构成像。如申请专利范围第1项之方法，其中，进一步进行测量时系使用透明标的物。如申请专利范围第12项之方法，其中：在第一步骤中，只测量上表面及/或不同表面之多重反射可分离的表面部分，且/或进一步使用表面之已知形状及方位，而计算出已知图像在多重反射中的表现，以及，在第二步骤中，进一步评估多重反射。如申请专利范围第1项之方法，其中，图像(15)形状系受解析度所左右。一种反射面之形状测量系统之校正方法，此系统具有一个产生反射于反射面(14)上的图像(15)的图像载体(2)、及一台以逐个像素方式观视反射面(14)上之图像(15)的摄影机(1)，其特征在于：使用两个大面积的平行反射面(5,6)进行校正，而且，该反射面(5,6)由一液体所构成。如申请专利范围第15项之方法，其中，将反射面(5,6)设在与欲测量的反射面(14)相当的高度。如申请专利范围第15或16项之方法，其中，反射面(5,6)系由一槽体(4)中液体之两个不同液面高度、及/或藉由适当移动槽体(4)而构成。如申请专利范围第15项之方法，其中，进一步在一共同座标系统(10)中校正所有图像载体(2)及摄影机(1)。如申请专利范围第15项之方法，其中，液体为甘油。一种反射面(14)之形状测量系统，其包括至少一个产生可反射在反射面(14)上的图像(15)的图像载体(2)、至少一台以逐个像素方式观视反射在反射面(14)上的图像(15)的摄影机(1)、及一个用来评估摄影机影像(8)而求取形状及/或校正的评估单元，其特征在于：该系统具有一个设置大型平坦反射面(5,6)的装置(4)，其反射面较佳由一液体所构成。如申请专利范围第20项之系统，其中，设置大型平坦反射面(5,6)的装置是一槽体(4)。如申请专利范围第20或21项之系统，其中，图像载体(2)是一萤幕。如申请专利范围第20项之系统，其中，多个图像载体(2)构成一矩形，而且，在图像载体(2)之每一个交点设置一台摄影机(1)。如申请专利范围第20项之系统，其中，该等图像载体(2)被设置成可覆盖反射面(14)所构成的空间角度。 |
