发明名称 分析取样讯号的方法
摘要
申请公布号 申请公布日期 2011.09.01
申请号 TW096116985 申请日期 2007.05.14
申请人 晨星半导体股份有限公司 开曼群岛;晨星软体研发(深圳)有限公司 中国;晨星股份有限公司 法国;晨星半导体股份有限公司 发明人 赛瑞尔 凡拉登;马丁 利契
分类号 H04B17/00;H04B1/707 主分类号 H04B17/00
代理机构 代理人 刘纪盛 台北市信义区松德路171号2楼;谢金原 台北市信义区松德路171号2楼
主权项 一种分析取样讯号的方法,用于调整一取样信号,用于一取样流程产生一信号取样版本,该方法包含:如有任何需要,于取样前对该讯号的取样瞬间确定一调整,使讯号的取样版本的频率响应及主要变化的频率响应在给定频率处建设性的结合,并产生一复数乘积;依据该复数乘积,计算一相位;以及依据该相位,产生一调整值,并依据该调整值进行该调整。如申请专利范围第1项所述之方法,更包含于计算该乘积之相位前过滤该乘积。如申请专利范围第2项所述之方法,更包含于推论出该调整值之前展开该相位值。如申请专利范围第2项所述之方法,其中该调整值系已过滤或已累加。如申请专利范围第3项所述之方法,其中该调整值系已过滤或已累加。如申请专利范围第1项所述之方法,其中该取样讯号系为一高速下行分组接入(HSDPA)资料讯号,其系藉由该取样流程对其符码率取样。如申请专利范围第1项所述之方法,其中给定频率大体上系为该通讯讯号之符码率的一半。如前述申请专利范围任一项所述之方法,其中用于取样讯号及其主要变化之频率响应值系藉由离散傅立叶转换(DFT)计算且于该离散傅立叶转换(DFT)流程中该累加长度系可调整。
地址 新竹县竹北市台元街26号4楼之1 TW 4F-1, NO. 26, TAI-YUAN ST., CHUPEI, HSINCHU HSIEN, TAIWAN 302, R. O. C.