发明名称 | 晶粒外观检查机 | ||
摘要 | 一种晶粒外观检查机,适用于检查数个粘附于一张胶膜的晶粒,包含一个机台单元、一个设置于该机台单元并可供粘附有所述晶粒的胶膜摆置定位的工作台单元、一个设置于该机台单元并可拍摄所述晶粒的影像的取像单元、一个与该取像单元电连接的处理单元,及一个与该处理单元电连接的检视单元,该处理单元根据所述晶粒的影像对所述晶粒分别定义出一个坐标位置,该检视单元具有一个显示所述晶粒的影像的触控屏幕。 | ||
申请公布号 | CN201955309U | 申请公布日期 | 2011.08.31 |
申请号 | CN201120037829.0 | 申请日期 | 2011.02.14 |
申请人 | 富振昌科技股份有限公司 | 发明人 | 陈清凉;陈冠男 |
分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人 | 张雅军;秦小耕 |
主权项 | 一种晶粒外观检查机,适用于检查数个粘附于一张胶膜的晶粒,其特征在于:该晶粒外观检查机包含一个机台单元、一个供黏附有所述晶粒的胶膜摆置定位的工作台单元、一个用于拍摄所述晶粒的影像的取像单元、一个根据所述晶粒的影像对所述晶粒分别定义出一个坐标位置的中央处理单元,及一个检视单元;该工作台单元,设置于该机台单元;该取像单元,设置于该机台单元;该中央处理单元,与该取像单元电连接;该检视单元,与该中央处理单元电连接,该检视单元具有一个显示所述晶粒的影像的触控屏幕。 | ||
地址 | 中国台湾台中市 |