发明名称 |
一种制备纳米尺度氧化硅沟槽的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种制备纳米尺度氧化硅沟槽的方法,属于纳米加工技术领域。该方法包括:在氧化硅衬底上直接生长或沉积碳纳米管,在碳纳米管上再沉积一氧化硅薄膜,随后,用氢氟酸溶液刻蚀掉氧化硅薄膜,即可在氧化硅衬底上得到纳米尺度沟槽。本发明利用碳纳米管增强刻蚀特性,在室温下制备纳米尺度氧化硅沟槽。该沟槽形状取决于碳纳米管的形状,刻蚀时不受表面形貌变化的影响;沟槽的位置和方向可通过预先调整碳纳米管的位置和取向来控制,沟槽的宽度和深度可通过控制刻蚀时间和碳纳米管的直径来控制。本发明与现有硅基工艺兼容,可实现大规模、大面积的纳米尺度氧化硅沟槽的制备。 |
申请公布号 |
CN101780943B |
申请公布日期 |
2011.08.31 |
申请号 |
CN200910312966.8 |
申请日期 |
2009.12.31 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
赵华波;张朝晖;傅云义;张岩;李彦;严峰;应轶群 |
分类号 |
B81C1/00(2006.01)I |
主分类号 |
B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 |
代理人 |
贾晓玲 |
主权项 |
一种制备纳米尺度氧化硅沟槽的方法,包括如下步骤:1)在表面具有氧化硅层的衬底上直接生长碳纳米管;2)在上述碳纳米管上沉积厚度为20nm‑‑100nm的氧化硅薄膜;3)用水和氢氟酸的体积比为10∶1‑‑3∶1的氢氟酸溶液或TMAH碱性溶液腐蚀掉上述氧化硅薄膜,在衬底上得到纳米尺度的沟槽。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |