发明名称 APPARATUS FOR DETECTING DEFECT ON SUBSTRATE SUFACE USING DIPOLE-SCATTERED BEAM AND METHOD FOR DETECTING THEREOF
摘要
申请公布号 KR20110096785(A) 申请公布日期 2011.08.31
申请号 KR20100016228 申请日期 2010.02.23
申请人 NANO ELECTRO OPTICS CO., LTD. 发明人 KIM, JONG SOO;WEE, HAE SUNG;LEE, CHANG WHAN
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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