| 发明名称 | 半导体器件多功能手工测试装置 | ||
| 摘要 | 半导体器件多功能手工测试装置，包括环氧基板，在环氧基板上固定开关、端子台，并安装有若干个用于接触测试产品的铜皮，所述铜皮分别连接到开关上，并且开关和端子台之间通过导线连接。本实用新型的有益效果是：1.用多功能手动测试装置测试产品，节约了因芯片不同而更换管脚连线与设备的连接，提高了测试效率。2.用多功能手动测试装置测试产品，只需要动动开关就可以测试不一样的产品，操作使用比较方便；3.用多功能手动测试装置测试产品，不需要再人工焊接电容，提高了测试参数的稳定性。 | ||
| 申请公布号 | CN201955443U | 申请公布日期 | 2011.08.31 |
| 申请号 | CN201120002301.X | 申请日期 | 2011.01.06 |
| 申请人 | 无锡市玉祁红光电子有限公司 | 发明人 | 蔡新福;王一平 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人 | 冯铁惠 |
| 主权项 | 半导体器件多功能手工测试装置，包括环氧基板，其特征在于，在环氧基板上固定开关、端子台，并安装有若干个用于接触测试产品的铜皮，所述铜皮分别连接到开关上，并且开关和端子台之间通过导线连接。 | ||
| 地址 | 214183 江苏省无锡市惠山区玉祁镇会议中心对面(无锡市玉祁红光电子有限公司) | ||