| 发明名称 | 电子部件试验装置 | ||
| 摘要 | 本发明的电子部件试验装置将被试验IC的输入输出端子推压到测试头的插座(50)进行测试；其中：具有至少包括推压基座(34)、引导推压基座(34)、推压块(31)、支承座32、及2个弹簧(36、38)的推压组件(30)；该推压基座(34)可相对插座(50)接近离开移动地设置；该引导推压基座(34)固定在推压基座(34)；该推压块(31)从插座(50)的相反面接触于被试验IC进行推压；该支承座(32)安装推压块(31)；该2个弹簧(36、38)相对推压块(31)通过支承座(32)在被试验IC的推压方向施加弹性力；该推压组件(30)的支承座(32)和弹簧(36、38)由引导推压基座(34)和推压基座(35)夹住，推压块(31)通过设于推压基座(34)的开口部可装拆地安装于支承座(32)。 | ||
| 申请公布号 | CN101339205B | 申请公布日期 | 2011.08.31 |
| 申请号 | CN200810134053.7 | 申请日期 | 2002.07.30 |
| 申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 斋藤登 |
| 分类号 | G01R1/02(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 何腾云 |
| 主权项 | 一种推压块，其具有基座部，该基座部具有与被试验电子部件接触的下面，该推压块具有第一轴和第二轴，该第一轴具有第一长度，向与基座部的上面垂直的方向突出；该第二轴具有第二长度，向与基座部的上面垂直的方向突出；上述第一长度比上述第二长度长。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||