发明名称 半导体装置与其制造方法
摘要 本发明提供一种在半导体基底上形成的半导体装置与其制造方法,该半导体基底具有第一表面与第二表面,包含多个元件在第一表面上,多个贯穿硅导通孔(TSVs)在半导体基底内,由第一表面延伸至第二表面,保护层覆盖位于半导体基底的第一表面上的所述多个元件,多个有源导电柱设置在保护层上,具有第一高度,每个有源导电柱与所述多个元件中的至少一个电性连接,多个伪导电柱设置在保护层上,具有第二高度,每个伪导电柱与所述多个元件电性隔绝,第一高度与第二高度大抵上相同。本发明结合了导电柱与贯穿硅导通孔的制造方法,以满足工艺的可靠度以及高度整合性的要求。
申请公布号 CN102163588A 申请公布日期 2011.08.24
申请号 CN201010207478.3 申请日期 2010.06.17
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 郭宏瑞;刘重希;余振华
分类号 H01L23/482(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/482(2006.01)I
代理机构 北京市德恒律师事务所 11306 代理人 陆鑫;高雪琴
主权项 一种半导体装置,包括:一第一半导体装置,包括:一半导体基底,具有一第一表面与一第二表面,其中该半导体基底包含多个元件设置于该第一表面上;多个贯穿硅导通孔,设置在该半导体基底内,由该第一表面延伸至该第二表面;一保护层,覆盖在该半导体基底的该第一表面上的所述多个元件之上;多个有源导电柱,设置在该保护层上,具有一第一高度,其中每个有源导电柱与所述多个元件中的至少一个电性连接;以及多个伪柱,设置在该保护层上,具有一第二高度,其中每个伪柱与所述多个元件电性隔绝,其中该第一高度与该第二高度相同。
地址 中国台湾新竹市