用于测试部分地组装的多管芯器件的方法、集成电路管芯和多管芯器件

摘要

本发明公开了一种对部分地组装的多管芯器件(1)进行测试的方法，包括：提供包括器件级测试数据输入(12)和器件级测试数据输出(18)在内的载体(300)；将第一管芯置于所述载体上，所述第一管芯(100c)的测试访问端口包括主测试数据输入(142)、辅测试数据输入(144)和测试数据输出(152)，所述测试访问端口由测试访问端口控制器(110)来控制；以通信方式将所述第一管芯的辅测试数据输入(144)与器件级测试数据输入(12)耦合，并将所述第一管芯的测试数据输出(152)与器件级测试数据输出(18)耦合；向所述第一管芯提供配置信息，以使所述第一管芯处于所述第一管芯接受来自其辅测试数据输入(144)的测试指令的状态；对所述第一管芯进行测试，所述测试包括通过所述器件级测试数据输入(12)向所述第一管芯的辅测试数据输入(144)提供测试指令；以及在器件级测试数据输出(18)上，收集所述第一管芯的测试结果。从而，可以使用集成的边界扫描测试架构来对诸如系统级封装之类的部分地组装的多管芯器件的管芯进行测试。

主权项

一种对部分地组装的多管芯器件(1)进行测试的方法，所述器件包括：‑载体(300)，包括器件级测试数据输入(12)和器件级测试数据输出(18)；‑所述载体上的第一管芯，所述第一管芯(100c)具有测试访问端口，所述测试访问端口包括主测试数据输入(142)、辅测试数据输入(144)和测试数据输出(152)，所述测试访问端口由测试访问端口控制器(110)来控制；其中，所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)以通信方式与器件级测试数据输入(12)耦合，所述第一管芯(100c)的测试数据输出(152)以通信方式与器件级测试数据输出(18)耦合；所述方法包括以下步骤：‑使所述第一管芯(100c)处于所述第一管芯(100c)接受来自所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)的测试指令的状态；‑将测试数据提供给所述第一管芯(100c)，包括通过所述器件级测试数据输入(12)向所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)提供测试指令；以及‑在器件级测试数据输出(18)上，从所述第一管芯(100c)收集测试结果。