发明名称 检测和测距装置以及检测和测距方法
摘要 本发明涉及检测和测距装置以及检测和测距方法。在该利用传感器阵列进行到达方向估计并利用多个发射传感器扩大有效孔径的检测和测距装置中,消除了与时分切换关联的副作用,实现高精度测量。发射波在调制器中利用相互正交的代码扩频,并且得到的发射波从两个发射传感器发射。由接收传感器接收的信号中的每一个由分割器分为两部分,所述两部分在解调器中分别利用发射机中使用的相同代码解扩。
申请公布号 CN101398483B 申请公布日期 2011.08.24
申请号 CN200810165816.4 申请日期 2008.09.23
申请人 富士通株式会社;富士通天株式会社 发明人 白川和雄;大口胜之;近藤泰幸
分类号 G01S13/34(2006.01)I 主分类号 G01S13/34(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 李辉;孙海龙
主权项 一种检测和测距装置,该检测和测距装置包括:M个扩频器,用于使用相互正交的M个正交码对发射波扩频而生成M个扩频发射波,其中M是不小于2的整数;M个发射传感元件,用于发射所述M个扩频发射波;N个接收传感元件,其中N是不小于2的整数;接收控制部分,用于将在所述N个接收传感元件处获得的N个接收信号的每一个分割为M个部分,并且使用所述M个正交码对所述M个部分进行解扩而生成M×N个解扩输出;以及到达方向估计部分,用于根据所述M×N个解扩输出来估计从多个目标到达的反射信号的到达方向。
地址 日本神奈川县川崎市