发明名称 芯片封装结构的制造方法
摘要 本发明关于一种芯片封装结构的制造方法。该制造方法包括以下步骤:(a)提供一基材,该基材具有至少一导电孔;(b)设置该基材于一载体上;(c)移除部分该基材,以显露该导电孔,并形成至少一穿导孔;(d)设置数个芯片于该基材的表面,这些芯片电性连接至该基材的穿导孔;(e)形成一包覆材;(f)移除该载体;(g)进行覆晶接合工艺;(h)移除该包覆材;及(i)形成一保护材。藉此,该载体及该包覆材可使该基材于工艺中不易产生翘曲的情况。
申请公布号 CN102163558A 申请公布日期 2011.08.24
申请号 CN201010126422.5 申请日期 2010.02.23
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 王盟仁
分类号 H01L21/50(2006.01)I;H01L21/58(2006.01)I 主分类号 H01L21/50(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆勍
主权项 一种芯片封装结构的制造方法,包括:(a)提供一基材,该基材具有一第一表面、一第二表面、至少一导电孔及至少一第一凸块,该导电孔位于该基材内,该第一凸块位于该第二表面,且电性连接至该导电孔的第一端部;(b)设置该基材于一载体上,其中该基材的第二表面面对该载体;(c)从该基材的第一表面移除部分该基材,以显露该导电孔的第二端部于该基材的一第三表面,并形成至少一穿导孔于该基材;(d)设置数个芯片于该基材的第三表面,这些芯片电性连接至该基材的穿导孔;(e)形成一包覆材于该基材的部分第三表面,并包覆这些芯片;(f)移除该载体;(g)进行覆晶接合工艺,使得该基材的第一凸块接触一承载组件;(h)移除该包覆材;及(i)形成一保护材于该承载组件上,并至少包覆该基材的第一凸块。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号
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