发明名称 |
芯片封装结构的制造方法 |
摘要 |
本发明关于一种芯片封装结构的制造方法。该制造方法包括以下步骤:(a)提供一基材,该基材具有至少一导电孔;(b)设置该基材于一载体上;(c)移除部分该基材,以显露该导电孔,并形成至少一穿导孔;(d)设置数个芯片于该基材的表面,这些芯片电性连接至该基材的穿导孔;(e)形成一包覆材;(f)移除该载体;(g)进行覆晶接合工艺;(h)移除该包覆材;及(i)形成一保护材。藉此,该载体及该包覆材可使该基材于工艺中不易产生翘曲的情况。 |
申请公布号 |
CN102163558A |
申请公布日期 |
2011.08.24 |
申请号 |
CN201010126422.5 |
申请日期 |
2010.02.23 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 |
发明人 |
王盟仁 |
分类号 |
H01L21/50(2006.01)I;H01L21/58(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/50(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陆勍 |
主权项 |
一种芯片封装结构的制造方法,包括:(a)提供一基材,该基材具有一第一表面、一第二表面、至少一导电孔及至少一第一凸块,该导电孔位于该基材内,该第一凸块位于该第二表面,且电性连接至该导电孔的第一端部;(b)设置该基材于一载体上,其中该基材的第二表面面对该载体;(c)从该基材的第一表面移除部分该基材,以显露该导电孔的第二端部于该基材的一第三表面,并形成至少一穿导孔于该基材;(d)设置数个芯片于该基材的第三表面,这些芯片电性连接至该基材的穿导孔;(e)形成一包覆材于该基材的部分第三表面,并包覆这些芯片;(f)移除该载体;(g)进行覆晶接合工艺,使得该基材的第一凸块接触一承载组件;(h)移除该包覆材;及(i)形成一保护材于该承载组件上,并至少包覆该基材的第一凸块。 |
地址 |
中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号 |