发明名称 |
压敏导管校正系统 |
摘要 |
本发明提供了一种校正设备,所述校正设备包括固定装置,所述固定装置被连接为接纳探针,使得所述探针的远端头压到所述固定装置内的某点上,并根据施加到所述远端头上的压力产生第一测量值,所述第一测量值指示所述远端头相对于所述探针远端的变形。本发明还提供了一种感测装置,所述感测装置被连接到所述固定装置上,并被配置成产生有关所述远端头施加到所述点上的机械力的第二测量值。本发明还提供了一种校正处理器,所述校正处理器被配置成接收来自所述探针的所述第一测量值和来自所述感测装置的所述第二测量值,并根据所述第一测量值和所述第二测量值计算一个或多个校正系数,以用于评价作为所述第一测量值的函数的所述压力。 |
申请公布号 |
CN102160820A |
申请公布日期 |
2011.08.24 |
申请号 |
CN201010623268.2 |
申请日期 |
2010.12.23 |
申请人 |
韦伯斯特生物官能(以色列)有限公司 |
发明人 |
A·戈瓦里;Y·埃弗拉思;A·C·阿尔特曼 |
分类号 |
A61B19/00(2006.01)I;A61B5/06(2006.01)I |
主分类号 |
A61B19/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
俞华梁;卢江 |
主权项 |
一种校正设备,包括:固定装置,所述固定装置被耦合为接纳探针,使得所述探针的远端头压到所述固定装置内的某点上,并根据施加到所述远端头上的压力产生第一测量值,所述第一测量值指示所述远端头相对于所述探针的远端的变形;感测装置,所述感测装置被耦合到所述固定装置,并被配置成产生有关所述远端头施加到所述点上的机械力的第二测量值;以及校正处理器,所述校正处理器被配置成接收来自所述探针的所述第一测量值和来自所述感测装置的所述第二测量值,并根据所述第一和第二测量值计算一个或多个校正系数,以用于评价作为所述第一测量值的函数的所述压力。 |
地址 |
以色列约克尼姆 |