| 发明名称 | 用于硬盘缺陷区域检测和分类的基于频率的方法 | ||
| 摘要 | 本公开涉及用于硬盘缺陷区域检测和分类的基于频率的方法。在硬盘驱动器读取通道中，通过对相应于例如存储在硬盘上的2T数据模式的信号值(诸如ADC或均衡器输出值)应用变换，诸如离散傅立叶变换(DFT)，产生两个不同数据频率(例如，2T和DC)的基于频率的测量。使用基于频率的测量检测硬盘上的缺陷区域和/或将缺陷区域分类为是由热粗糙(TA)或下降介质缺陷(MD)产生的。 | ||
| 申请公布号 | CN102163460A | 申请公布日期 | 2011.08.24 |
| 申请号 | CN201110040916.6 | 申请日期 | 2011.02.17 |
| 申请人 | LSI公司 | 发明人 | G·马修;韩洋;杨少华;李宗旺;李元兴 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 申发振 |
| 主权项 | 一种用于检测或分类硬盘上的缺陷区域的以机器实现的方法，该方法包括：(a)接收与存储在硬盘上的具有第一数据频率的数据模式的数据相对应的信号值(例如，x[n]，y[n])；(b)产生与所述第一数据频率相对应的第一测量(例如W[n])；(c)产生与不同于所述第一数据频率的第二数据频率相对应的第二测量(例如Z[n])；和(d)基于所述第一测量和所述第二测量，检测或分类缺陷区域。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚 | ||