发明名称 |
一种平均粒度测试仪的粉末测试样的压制装置 |
摘要 |
一种平均粒度测试仪的粉末测试样的压制装置,包括压力计旋纽,其特征在于,所述压力计旋纽上设有一个空转式扭力扳手,所述压力计旋纽和所述空转式扭力扳手之间卡紧。采用本实用新型所述的压制装置避免了手动旋转压力器旋钮压制粉末测试样压力不均匀而导致测试样空隙度不一致的现象,确保了粒度测试结果的稳定性和一致性。 |
申请公布号 |
CN201945538U |
申请公布日期 |
2011.08.24 |
申请号 |
CN201120009563.9 |
申请日期 |
2011.01.13 |
申请人 |
三环瓦克华(北京)磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司 |
发明人 |
孙立柏;蔡喆伦;俞建苑;刘长庆;姚永利 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京王景林知识产权代理事务所 11320 |
代理人 |
王景林 |
主权项 |
一种平均粒度测试仪的粉末测试样的压制装置,包括压力计旋纽,其特征在于,所述压力计旋纽上设有一个空转式扭力扳手,所述压力计旋纽和所述空转式扭力扳手之间卡紧。 |
地址 |
102200 北京市昌平区科技园区创新路10号 |