发明名称 |
用于去除刻蚀残留物的组合物 |
摘要 |
用于去除刻蚀残留物的组合物,包括清洗有效量的溶剂、缓冲水溶液、氟化物、抗冻剂、聚合物抑制剂,可用于清洗半导体制造过程中的刻蚀残留物,且不会侵蚀SiO2、PETEOS、硅、低介质材料和一些金属物质如Ti、Al、Cu。 |
申请公布号 |
CN101490627B |
申请公布日期 |
2011.08.24 |
申请号 |
CN200780027419.4 |
申请日期 |
2007.08.17 |
申请人 |
安集微电子(上海)有限公司 |
发明人 |
刘兵;彭洪修;王淑敏 |
分类号 |
G03F7/42(2006.01)I;C11D7/28(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/42(2006.01)I |
代理机构 |
上海翰鸿律师事务所 31246 |
代理人 |
李佳铭 |
主权项 |
一种用于去除半导体工业中等离子刻蚀残留物的清洗液组合物,其特征在于:包括清洗有效量的溶剂、缓冲水溶液、氟化物、聚合物腐蚀抑制剂和抗冻剂,其中,所述聚合物腐蚀抑制剂为含有羧基的均聚物和/或含有羧基的共聚物,所述的含有羧基的均聚物为聚丙烯酸和/或聚马来酸酐;所述的含有羧基的共聚物为含羧基的聚醚共聚物、丙烯酸与马来酸共聚物、苯乙烯与丙烯酸共聚物和/或丙烯腈与马来酸共聚物以及它们的铵盐、钾盐和/或钠盐,所述的溶剂为N‑甲基吡咯烷酮、二甲基亚砜、二甲基甲酰胺或环丁砜。 |
地址 |
中国上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号5号楼613-618室 |