| 主权项 |
一种千分表支架，其包括一第一支撑臂、一第二支撑臂和二个用于测量之测量柱，所述第一支撑臂与所述第二支撑臂相互平行设置且相隔一定距离，所述第一支撑臂内有一第一贯穿孔用于容纳所述之测量柱，其改进在于，千分表支架还包括一活动支撑臂、一用于调节同轴度之归零柱，所述活动支撑臂可拆卸地安装于第二支撑臂上，活动支撑臂内有一第二贯穿孔用于容纳所述之测量柱，所述归零柱用于穿置所述第一支撑臂内之第一贯穿孔和活动支撑臂内之第二贯穿孔以调整所述第一和第二贯穿孔之同轴度。如申请专利范围1所述之千分表支架，其中：所述活动支撑臂于其一端形成一与所述第二支撑臂连接之凸柱，所述第二支撑臂于其端面上对应所述活动支撑臂之凸柱形成一盲孔，所述凸柱与盲孔具有相对应之形状，所述活动支撑臂藉由所述凸柱可拆卸地安装于第二支撑臂之盲孔内。如申请专利范围2所述之千分表支架，其中：所述活动支撑臂之凸柱之形状为长方体或其他多边棱柱体中之一种。如申请专利范围1所述之千分表支架，其中：所述第二支撑臂于其端面上形成一盲孔，在所述盲孔之开口处有一挡板，所述活动支撑臂与所述第二支撑臂相连接之端面四周等间距地安装有可径向伸缩之弹性滚珠。如申请专利范围4所述之千分表支架，其中：所述活动支撑臂与所述盲孔开口具有相对应之形状与大小。如申请专利范围1所述之千分表支架，其中：所述用于调节同轴度之归零柱为一体成形之两段不同半径之圆柱体所组成之整体，两段圆柱体之半径分别等于千分表测量头之半径和用于测量之圆柱状测量柱之半径，两段圆柱之同轴度误差满足±0.001um之要求。如申请专利范围1所述之千分表支架，其中：二个所述测量柱之顶端形状分别为一平板和一针状尖端。如申请专利范围1所述之千分表支架，其中：在所述第一支撑臂之端面上开设有一与所述第一贯穿孔相连通之第一固定螺栓孔，在所述活动支撑臂之端面上开设有一与所述第二贯穿孔相连通之第二固定螺栓孔。如申请专利范围1所述之千分表支架，其中：在所述盲孔外侧之第二支撑臂之两个侧面上分别并排形成第三固定螺栓孔、第四固定螺栓孔、第五固定螺栓孔和第六固定螺栓孔。如申请专利范围4所述之千分表支架，其中：在垂直于所述螺栓孔所在平面之第二支撑臂下表面上形成一第七固定螺栓孔。一调节千分表测量头与测量柱同轴度之方法，包括如下步骤：把活动支撑臂安装于第二支撑臂上，并令活动支撑臂之第二贯穿孔与第一支撑臂之第一贯穿孔相对；将归零柱从第一支撑臂内之第一贯穿孔穿入，调节活动支撑臂与第二支撑臂之相对位置使得归零柱可同时贯穿活动支撑臂内之第二贯穿孔和第一支撑臂内之第一贯穿孔；将第一支撑臂和活动支撑臂上之固定螺栓松开，取出归零柱，将千分表测量头穿入第一支撑臂之第一贯穿孔内，将用于测量之测量柱穿入活动支撑臂之第二贯穿孔内，使测量柱之顶端与千分表测量头之顶端相对。如申请专利范围11所述之调节千分表测量头与测量柱同轴度之方法，其中，归零柱同时贯穿活动支撑臂内之第二贯穿孔和第一支撑臂内之第一贯穿孔后，利用螺栓分别于第二支撑臂上之第三固定螺栓孔、第四固定螺栓孔、第五固定螺栓孔、第六固定螺栓孔和第七固定螺栓孔处将活动支撑臂之位置固定。如申请专利范围11所述之调节千分表测量头与测量柱同轴度之方法，其中，将千分表测量头穿入第一支撑臂之第一贯穿孔后利用螺栓于第一支撑臂上之第一固定螺栓孔处将千分表测量头固定。如申请专利范围11所述之调节千分表测量头与测量柱同轴度之方法，其中，将用于测量之圆柱状测量柱穿入活动支撑臂之第二贯穿孔后利用螺栓于活动支撑臂上之第二固定螺栓孔处将圆柱状测量柱固定。 |
