| 主权项 |
一种显示面板之检测方法，其步骤系包含：设置复数个测试点于一显示基板，该显示基板包括复数个显示面板，该些测试点系与该些显示面板电性连接，该些显示面板未设置偏光片；分别设置一偏光板于该显示基板之两侧；设置一光源于该显示基板之一侧；使用一光学元件于该显示基板之另一侧；输入一测试讯号于该些测试点，以传送该测试讯号至该些显示面板而显示画面；以及检测该些显示面板之画面品质。如申请专利范围第1项所述之检测方法，其中该光学元件包含一电荷耦合元件(Charge-Coupled Device，CCD)、一互补式金氧半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，CMOS)摄影机、一单一线型摄影机或一矩阵型摄影机。一种显示面板之检测方法，其步骤系包含：设置复数个测试点于一显示基板，该显示基板包括复数个显示面板，该些测试点系与该些显示面板电性连接，该些显示面板未设置偏光片；设置一偏光板于该些显示基板之一侧；设置一偏极化光源于该显示基板之另一侧；以及使用一光学元件位于该偏光板之一侧；输入一测试讯号于该些测试点，以传送该测试讯号至该些显示面板而显示画面；以及检测该些显示面板之画面品质。如申请专利范围第3项所述之检测方法，其中该光学元件包含一电荷耦合元件(Charge-Coupled Device，CCD)、一互补式金氧半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，CMOS)摄影机、一单一线型摄影机或一矩阵型摄影机。一种显示面板之检测方法，其步骤系包含：：设置复数个测试点于一显示基板，该显示基板包括复数个显示面板，该些测试点系与该些显示面板电性连接，该些显示面板未设置偏光片；设置一偏光板于该显示基板之一侧；设置一光源于该偏光板之一侧；使用一光学元件位于该显示基板之另一侧，其中该光学元件具有一偏光片；输入一测试讯号于该些测试点，以传送该测试讯号至该些显示面板而显示画面；以及检测该些显示面板之画面品质。一种显示面板之检测方法，其步骤系包含：设置复数个测试点于一显示基板，该显示基板包括复数个显示面板，该些测试点系与该些显示面板电性连接，该些显示面板未设置偏光片；设置一偏极化光源于该显示基板之一侧；设置一光学元件于该显示基板之另一侧，并使用该光学元件配合相对应该偏极化光源，其中该光学元件具有一偏光片；输入一测试讯号于该些测试点，以传送该测试讯号至该些显示面板而显示画面；以及检测该些显示面板之画面品质。如申请专利范围第6项所述之检测方法，其中该光学元件包括一电荷耦合元件(Charge-Coupled Device，CCD)、一互补式金氧半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，CMOS)摄影机、一单一线型摄影机或一矩阵型摄影机。如申请专利范围第1或3或5或6项所述之检测方法，其中该些测试点与该些显示面板之电性连接方式系包含一对一连接、网状连接或汇流排连接。如申请专利范围第1或3或5或6项所述之检测方法，其中该设置复数个测试点于一显示基板之步骤中系设置该些测试点于该些显示基板周围。如申请专利范围第1或3或5或6项所述之检测方法，其中该设置复数个测试点于一显示基板之步骤中，系设置复数个测试点于该显示基板之一下基板上，并对应于该些测试点而切割该显示基板之一上基板以露出该些测试点。如申请专利范围第1或3或5或6项所述之检测方法，其中该检测该些显示面板之步骤后更包含：分割该些显示面板。如申请专利范围第1或3或5或6项所述之检测方法，其中该些测试点系包含至少一电源端与一接地端。如申请专利范围第1或3或5或6项所述之检测方法，其中该测试讯号至少包含一电源讯号与一接地讯号。 |
