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Die Erfindung bezieht sich auf ein System zur Vermessung einer Oberfläche mit einer Projektionsvorrichtung, die eine vertikale Achse definiert und die mindestens eine Lasereinrichtung aufweist, die eingerichtet ist, eine erste Laserebene und eine zweite Laserebene zu emittieren, wobei die erste Laserebene und die zweite Laserebene so angeordnet sind, dass sie sich entlang einer ersten Schnittgeraden schneiden, wobei die erste Schnittgerade senkrecht zur vertikalen Achse verläuft, und mit einer Detektionsvorrichtung zur Bestimmung des Abstands der beiden Laserebenen entlang einer Messgeraden.
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