发明名称 Zerstörungsfreies Prüfsystem mit selbstausrichtender Sondenanordnung
摘要 Ein Prüfsystem (10) weist einen Sensor (16) auf, der konfiguriert ist, um Prüfdaten des Objektes (24) zu akquirieren, eine Bewegungssteuervorrichtung (11), eine Gelenkanordnung (12), die mit der Bewegungsteuereinrichtung (11) gekoppelt ist, und ein Sondengehäuse (13) auf, das mit der Gelenkanordnung (12) gekoppelt und konfiguriert ist, um den Sensor (16) zu halten. Das Prüfsystem (10) weist ferner ein nachgiebiges Element (14) auf. Das mit dem Sondengehäuse (13) gekoppelt und konfiguriert ist, um mit der Gelenkanordnung (12) und der Bewegungssteuervorrichtung (11) zusammen zu wirken, um den Sensor (16) relativ zu dem Objekt (24) zu positionieren. Eine selbstausrichtende Sondenanordnung wird ebenfalls präsentiert.
申请公布号 DE102010017119(A1) 申请公布日期 2011.08.18
申请号 DE201010017119 申请日期 2010.05.27
申请人 GENERAL ELECTRIC CO. 发明人 LEE, BYUNGWOO;WU, YANYAN;KRAY, NICHOLAS JOSEPH
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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