发明名称 |
Verfahren zur Herstellung eines rückwärts sperrenden Bipolartransistors mit isoliertem Gate |
摘要 |
Es wird ein Verfahren zum Herstellen eines rückwärts sperrenden Bipolartransistors mit isoliertem Gate bereitgestellt, das bei Herstellung eines rückwärts sperrenden IGBT mit einer Trennschicht, die entlang konisch zulaufender Oberflächen einer V-förmigen Nut ausgebildet ist, die unter Anwendung von anisotropem Ätzen gebildet ist, einen hoch zuverlässigen inversen Druckwiderstand sicherstellen und einen Reststrom beim Sperr-Vorspannen unterdrücken kann. Beim Bestrahlen mit einer Blitzlampe für ein Blitzlampenglühen nach einer Implantation von Ionen in eine zweite Konduktivitätstyp-Trennschicht und eine zweite Konduktivitätstyp-Kollektorschicht zur Ausbildung der zweiten Konduktivitätstyp-Kollektorschicht und der zweiten Konduktivitätstyp-Trennschicht wird der stärkste Anteil der Strahlungsenergie auf eine Tiefenposition vom oberen Abschnitt zum mittleren Abschnitt einer konisch zulaufenden Seitenkantenfläche fokussiert. |
申请公布号 |
DE102011003136(A1) |
申请公布日期 |
2011.08.18 |
申请号 |
DE20111003136 |
申请日期 |
2011.01.25 |
申请人 |
FUJI ELECTRIC HOLDINGS CO., LTD. |
发明人 |
NAKAZAWA, HARUO;KUBOUCHI, MOTOYOSHI;TERANISHI, HIDEAKI;SHIMIZU, HIDEO |
分类号 |
H01L21/331;H01L29/739 |
主分类号 |
H01L21/331 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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