发明名称 偏光片的亮点瑕疵检测方法与门槛值产生方法及其装置
摘要 本发明关于一种偏光片的亮点瑕疵检测方法与门槛值产生方法及其装置,该偏光片的亮点瑕疵检测方法于一检测装置执行,且该偏光片上具有至少一待测点,该亮点瑕疵检测方法包含以下步骤:(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样;(B)计算该检测区域中的影像灰阶值;(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值;及(D)将该评估值与一门槛值相比对,以检测该待测点是否为亮点瑕疵。如此藉由该亮点瑕疵检测方法可减少后续成品检验人员的人工目检时间。
申请公布号 CN102156137A 申请公布日期 2011.08.17
申请号 CN201110067106.X 申请日期 2011.03.21
申请人 明基材料有限公司;明基材料股份有限公司 发明人 赵新民
分类号 G01N21/958(2006.01)I 主分类号 G01N21/958(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种偏光片的亮点瑕疵检测方法,于一检测装置执行,且该偏光片上具有至少一待测点,其特征在于该亮点检测方法包含以下步骤:(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样;(B)计算该检测区域中的影像灰阶值;(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值;及(D)将该评估值与一门槛值相比对,以检测该待测点是否为亮点。
地址 215121 江苏省苏州市工业园区春辉路13号
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